Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: submicron semiconductor

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Uwarunkowania aparaturowe wymagane przy pomiarze prądów szumów m.cz. struktur tranzystorów submikronowych

Szewczyk A.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2002

Vol. 43, nr 6

38-39

W pracy przedstawiono najistotniejsze czynniki jakie powinno się uwzględniać aby efektywnie zmiejszać poziom przebiegów niepożądanych w ostrzowych pomiarach szumów struktur półprzewodnikowych. Przedstawione zalecenia redukcji zakłóceń sformułowano w oparciu o wyniki badań własnych autora.

In the paper the factors important for the effective minimisation of the undesirable signals level in the point probe noise measurements of the semiconductor structures are presented. Described methods for the distortion reduction comes from the author's own experience in the noise measurements field.