Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2002

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: struktury ułatwionego testowania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Diagnostyka układów elektronicznych z magistralą testującą

Borkowska M., Gonera M., Kern J.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2002

Vol. 43, nr 12

8-11

Omówiono diagnostykę współczesnych układów elektronicznych poprzez wprowadzenie do konstrukcji struktur ułatwionego testowania. Przedstawiono architekturę magistral testujących serii IEEE 1149. Omówiono prace prowadzone w PIE w zakresie własności i aplikacji tej magistrali.

Problems of the diagnostics of the modern electronic circuits and the way to solve them by means of design for testability structures are presented. The architecture of the test buses IEEE 1149 series is shown. Properties of the bus and their applications are the subject of the works in the Industrial Institute of Electronics. The results are presented.