Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Wiencek K.

1 2002

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: stereologiczna metoda oceny średniej średnicy kulistych cząstek

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Przyczynek do ilościowej mikroskopii elektronowej faz dyspersyjnych w stopach metali

Wiencek K.

Inżynieria Materiałowa

2002

R. XXIII, nr 4

182-185

Przedmiotem pracy jest stereologiczna metoda oceny średniej średnicy kulistych cząstek fazy dyspersyjnej za pomocą bezpośrednich pomiarów na obrazie cienkiej folii w transmisyjnej mikroskopii elektronowej. Metoda została opracowana w ramach stereologii zbioru cząstek kulistych, ze względu na rzut przekroju zbioru cząstek z płasko-równoległą płytką o grubości t na płaszczyznę. Wyprowadzono nowe równanie stereologiczne (13), w którym parametr jest funkcją średnich średnic: cząstek rzutu oraz przekrojów cząstek z płaszczyznami powierzchni płytki . Równanie (13) jest słuszne dla płytek, których grubość t jest większa niż największa średnica cząstek i może być wykorzystane w ilościowej mikroskopii elektronowej pod warunkiem, że parametr będzie wyznaczony za pomocą pomiarów na obrazie folii. Zostało wykazane, że jeżeli t jest odpowiednio duże, to dobrym przybliżeniem dla jest średnia cięciwa rzutu . W konsekwencji wzór (18) wyrażający przybliżoną zależność parametru od parametrów rzutu i może służyć do oceny parametru za pomocą bezpośrednich pomiarów średnic cząstek na obrazie folii. Ze względu na możliwość błędu, spowodowanego przesłanianiem się cząstek, zastosowanie opracowanej metody oceny parametru jest ograniczone do układów o dużej dyspersji i małej zawartości cząstek.

A stereological method for estimation of the mean particle size of a dispersed phase in metal alloys, which is based on measurements on thin foil image in transmission electron microscopy (TEM) is presented. The method results from stereology of spherical particles by using an orthogonal projection of the particle set intersection with a plane-parallel slice of thickness t, onto a plane. A new stereological equation (13) was obtained, which gives a relationship between the parameter, the mean projection profiles diameter and the mean section profiles diameter . The eq. (13) is valid for slices thickness t greater than the maximum particle diameter. Eq. (13) could be useful in quantitative TEM provided the parameter may be estimated by measurements on the foil image. It has been proved that when t is sufficiently large, the mean projection profile chord length approximates the parameter satisfactorily. Consequently, the eq. (18) which gives an approximate relationship between the parameters , and may be used for the estimation of parameter . For such estimation only measurements of profile diameters on the foil image are needed. Because of the particle overlapping error, the application of the presented method of the estimation of parameter is limited to dilute dispersions, i.e., the ones of high particle density and small volume fraction.