Celem pracy było opracowanie procedur przygotowania próbek warstwowych do badań metodami mikroskopii S/TEM oraz ocena możliwości technik S/TEM do analizy wydzieleń różnej wielkości. Ponadto, zbadano możliwość wykorzystania trybów niskopróżniowych SEM do badania próbek nieprzewodzących.
EN
The purpose of the work was to develop procedures for preparation of layer samples for testing by S/TEM microscopy methods and assess the abilities of S/TEM techniques for analysis of precipitations with different sizes. In addition, the possibility to use low-vacuum modes of SEM operation for testing low-conductivity samples was examined.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.