Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2010

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: spetroskopia ramanowska

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Badania struktury molekuralnej i nanokrystalicznej warstw Pd-C do zastosowań w detektorach wodorowych

Suchańska M., Czerwosz E., Diduszko R., Dłużewski P., Kęczkowska J., Kowalska E., Rymarczyk J.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2010

Vol. 51, nr 6

54-57

Prezentowane są wyniki charakteryzacji właściwości fizyko-chemicznych nanostrukturalnych warstw węglowo-palladowych (Pd-C), które mogą być wykorzystane jako warstwy aktywne w detektorach wodoru i/lub związków gazowych wodoru. Warstwy Pd-C zostały wytworzone metodą dwuetapową, gdzie jako pierwszy etap zastosowano technologie PVD, zaś drugim etapem byta metoda CVD. Badano topografię warstw metodą mikroskopii sił atomowych (AFM). Struktura warstw była badana na poziomie subatomowym metodą transmisyjnej mikroskopii elektronowej (TEM), w skali molekularnej metodą spektroskopii ramanowskiej (RS), a w skali mikro metodą dyfrakcji rentgenowskiej (XRD).

Pd-C films are known as very promising materials for hydrogen sensors and storage. We present results of characterization of Pd-C films composed of carbon and palladium nanograins and obtained in two steps method. The film obtained in the first step exhibits multiphase structure composed of fullerene nanograins, amorphous carbon and palladium nanocrystals. This film is modified in CVD process. The final films has porous carbonaceous structure. The films topography was studied using Atomie Force Microscopy (AFM). The films structure was investigated using the following methods: Transmission Electron Microscopy (TEM) on subatomic level, Raman Spectroscopy (RS) in molecular scale and X-ray Diffraction (XRD) in micro scale.