Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: spektroskopia elipsometryczna

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Sol-gel Al2O3 antireflection coatings for silicon solar cells

Dobrzański L.A., Szindler M., Szindler M.M., Hajduk C.

Archives of Materials Science and Engineering

2014

Vol. 67, nr 1

24-31

Purpose: This paper presents the results of investigations on morphology and optical properties of the prepared aluminium oxide thin films Design/methodology/approach: Thin films were prepared with use of sol-gel spin coating method. The changes of surface morphology were observed in topographic pictures performed with the atomic force microscope AFM. Obtained roughness coefficients values were generated with XEI Park Systems software. The thickness distribution were checked with spectroscopic ellipsometry with use of mapping mode. The optical reflection spectra were measured with UV-Vis spectrophotometry. Findings: Results and their analysis show that the sol-gel method allows the deposition of homogenous thin films of Al2O3 with the desired geometric characteristics and good optical properties. Practical implications: The technology of sol-gel aluminium oxide thin films deposition causes that mentioned thin films are good potential material for optics, optoelectronics and photovoltaics. Originality/value: The paper presents some results of investigations on aluminium oxide thin films prepared with sol-gel spin coating method on polished monocrystalline silicon.

Topografia i grubość warstw węglowych wytworzonych na stali martenzytycznej przeznaczonej na narzędzia chirurgiczne

Kiel-Jamrozik M., Basiaga M., Szewczenko J., Paszenda Z., Jaglarz J.

Przegląd Elektrotechniczny

2013

R. 89, nr 12

317-319

W pracy przedstawiono wyniki badań dotyczących topografii i grubości warstw węglowych, które były wytworzone na powierzchni stali martenzytycznej przeznaczonej na narzędzia chirurgiczne. Modyfikacja powierzchni stali obejmowała zabiegi: bębnowania, pasywacji chemicznej oraz naniesienie diamentopodobnej warstwy węglowej metodami rozpylania magnetronowego i rozkładu węglowodorów w plazmie wzbudzonej w polu wysokiej częstotliwości. Grubość warstw węglowych określono z wykorzystaniem spektroskopii elipsometrycznej.

The paper presents results of studies on topography and thickness of carbon layers which were produced on martensitic steel used for surgical tools. Modification of the steel surface was consisted of several procedures: barreling, chemical passivation and carbon layer application by magnetron sputtering method and decomposition of hydrocarbons in the plasma induced in the high-frequency field. Thickness of carbon layers was determined by ellipsometric spectroscopy.

Dyspersja przenikalności dielektrycznej kryształów SBN w zakresie spektralnym światła widzialnego i nadfioletu

Dorywalski K., Andriyevsky B., Patryn A.

Zeszyty Naukowe Wydziału Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej

2010

Nr 2

65--76

Dyspersja przenikalności dielektrycznej (funkcje pseudo-dielektryczne) <ε>(E) = <ε1>(E) + i<ε2>(E) kryształów SrxBa1-xNb2O6 (SBN) została zmierzona w temperaturze pokojowej dla pięciu współczynników zawartości atomów Sr (x = 0,40; 0,55; 0,61; 0,65; 0,75) oraz Ba (1-x) przy pomocy spektroskopii elipsometrycznej z wykorzystaniem promieniowania synchrotronowego w zakresie energii fotonów E = 1,3 – 10 eV. Uzyskane widma <ε2>(E) dla SBN są bardzo zbliżone do analogicznego widma kryształu LiNbO3, w którym oktaedryczne grupy NbO6 są odpowiedzialne za osobliwości zależności <ε>(E). Przeanalizowano zmiany charakterystyk dyspersyjnych SBN wraz ze zmianą współczynnika x. Ustalono, że zależność części urojonej przenikalności <ε2> SBN od współczynnika x jest o charakterze ekstremalnym, nieliniowym.