Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Przemysł Chemiczny

1 2006

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: spektroskopia TOF-SIMS

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Zastosowanie spektroskopii TOF-SIMS w charakterystyce katalizatorów Pd/SiO2 otrzymanych metodą zol-żel

Karski S., Ludomirska I., Proga H., Szynkowska M.I., Witońska I., Kłonkowski A.M., Kledzik K.

Przemysł Chemiczny

2006

T. 85, nr 1

33-37

Zbadano wpływ warunków preparatyki katalizatorów Pd/SiO2 otrzymanych metodą zol-żel na ich aktywność i selektywność w procesie redukcji aldehydu krotonowego. Do analizy powierzchni katalizatora użyto spektrometru TOF– SIMS, co umożliwiło wizualizację powierzchni, określenie składu chemicznego oraz segregację warstw powierzchniowych katalizatora w zależności od temperatury kalcynacji i redukcji, i w konsekwencji dobranie optymalnych warunków preparatyki.

Catalyst activity and selectivity were tested in the redn. (100°C/2 hrs.) of crotonaldehyde satd. vapors in 0.03 l. H2/ min in relation to the 5%Pd/SiO2 prepn. history, esp. to calcination at 300, 500, or 700°C in Ar and at 300 or 500°C in H2 just before the reaction. The 500 and 300°C, resp., resulted in Pd distributed uniformly on the SiO2 surface, a factor crit. for catalyst’s high activity. TOF-SIMS found CH3+, CH3O+, C2H5, and SiCH3+ on the catalyst surface, but calcination at 500 or 700°C removed most of the org. fragments. The H2-treatment at 500–700°C, resulted in Pd clusters nonuniformly distributed (TOF–SIMS) on the surface and in a less active catalyst.