Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 Przegląd Elektrotechniczny

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: spektroradiometry

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Optymalizacja charakterystyki czułości widmowej układu elektro-optycznego spektroradiometru

Czech E., Fryc I.

Przegląd Elektrotechniczny

2012

R. 88, nr 7a

183-186

W pracy przedstawiono metodę optymalizacyjną umożliwiającą zaprojektowanie siatki dyfrakcyjne spektroradiometruj, która przy współpracy z detektorem tegoż spektroradiometru zapewni, że charakterystyka czułości widmowej całego będzie miała stałą optymalną wartość w całym zakresie pomiarowym.

The method described in this paper, enables spectral optimization of the spectroradiometer system sensitivity (the diffraction grating and the detector). By using this optimization method the spectral characteristics of spectroradiometer will have a constant value in the range of processed wavelength.

Porównanie technik pomiarowych stosowanych w spektroradiometrach promieniowania UV-VIS

Gilewski M.

Przegląd Elektrotechniczny

2007

R. 83, nr 5

28-30

Współcześnie stosuje się kilka metod pomiarowych parametrów energetycznych promieniowania UV-VIS. Precyzyjne, stacjonarne spektroradiometry stosowane są w klasycznej metodzie skanującej. Metoda pseudo-równoległa implementowana jest w minispektrometrach, które są mniej dokładne oraz tańsze niż spektroradiometry stacjonarne. Wielokanałowa głowica pomiarowa jest wykorzystywana w metodzie równoległej, posiadającej korzystniejsze charakterystyki częstotliwościowe niż powyższe metody.

There are a few methods of measure spectral power parameters of UV-VIS radiation. In the classical scanning method are used the stationary, precise spectrometers. The pseudo-parallel method is applied in the minispectrometers. They are less precise than stationary spectrometers but they are relatively cheap. The multichannel measured head is used in the parallel method. It has better frequency characteristics than above scanning method and pseudo-parallel method.