Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 2003

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: spektrometria podczerwieni

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Technika cienkiej warstwy w spektrometrii podczerwieni i jej zastosowania

Harmasz J.

LAB Laboratoria, Aparatura, Badania

2003

R. 8, nr 3

9-11

Spektrometria podczerwieni znajduje obecnie bardzo duże zastosowanie zarówno w laboratoriach naukowych, jak i przemysłowych, medycznych, a także związanych z ochroną środowiska. Tradycyjna technika w roztworze, z zastosowaniem wiązki niespolaryzowanej jest stosowana głównie do ustalania grup funkcyjnych i struktury związków. Technika pomiarowa tzw. technika cienkiej warstwy, z jednoczesnym zastosowaniem wiązki spolaryzowanej, daje zupełnie nowe możliwości wykorzystania spektrometrii IR.

Spektrometria w bliskiej podczerwieni

Witkiewicz Z., Baranowski P.

Aparatura Badawcza i Dydaktyczna

2003

T. 8, nr 3

255--259

Scharakteryzowano spektrometrię w podczerwieni, jako metodę analityczną, ze szczególnym uwzględnieniem spektrometrii w bliskiej podczerwieni (NIR). Opisano właściwości i zalety NIR w porównaniu ze zwykłą spektrometrią w podczerwieni oraz podano przykłady jej zastosowań.

The infrared spectrometry as an analytical method is characterized. The properties and advantages of near infrared spectrometry (NIR) in comparison to the ordinary infrared spectrometry is described. The examples of NIR application are given.