Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Przemysł Chemiczny

1 2017

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: spektrometria mas jonów wtórnych z analizatorem czasu przelotu

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Zastosowanie spektrometrii mas jonów wtórnych z analizatorem czasu przelotu (TOF-SIMS) do badań odporności korozyjnej warstw konwersyjnych wytworzonych działaniem chromu(III) na powłoki cynkowe na stali węglowej

Rogowski J., Socha M., Socha A.

Przemysł Chemiczny

2017

T. 96, nr 11

2317--2323

Metodą spektrometrii mas jonów wtórnych z analizatorem czasu przelotu (TOF-SIMS) zanalizowano skład chemiczny warstw konwersyjnych wytworzonych na próbkach stali węglowej pokrytych warstwą cynku. Odporność badanych warstw na korozję wyznaczono na podstawie krzywych polaryzacyjnych, pomiaru ich impedancji oraz z wykorzystaniem komory solnej. Stwierdzono, że w procesie pasywacji zachodzi reakcja między związkami chromu a cynkiem, prowadząca do zmiany składu chemicznego powierzchni, w tym utworzenia mieszanych tlenków ZnCrxOy. Wykazano korelacje szybkości korozji wyznaczonej metodą elektrochemiczną oraz w komorze solnej z zawartością jonów fluorkowych w warstwie pasywnej oraz rezystancją warstwy porowatej.

Samples of C steel coated with a 8 μm thick layer of Zn were treated with HNO₃ soln. and then passivated in com. Cr(III) salt solns. to produce conversion layers. Corrosion resistance of the layers was detd. on basis of polarization curves, impedance measurements and salt chamber tests. The chem. compn. of the layers was analyzed by using TOF-SIMS. The Cr compds. reacting with Zn during passivation resulted in formation of mixed ZnCrxOy oxides. Furthermore, the corrosion rate detd. by electrochem. methods and saline chamber test depended on the content of F ions in the passive layer.