In this paper a self-constructed multiple-technique electron spectrometer is described. It consists of the main analysis chamber connected with the preparation chamber via the gate valve and magnetically coupled sample transport system. It was mainly designed for study of III-V semiconductor surfaces with a special emphasis on various surface processing.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.