Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Rudy i Metale Nieżelazne

1 2000

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: spectral analytical method

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Certyfikowane materiały odniesienia dla mosiądzów do przeróbki plastycznej.

Mueller E., Bolibrzuch B.

Rudy i Metale Nieżelazne

2000

R. 45, nr 1

34-41

Opisano sposób sprawdzania jakości, a także sposób wykorzystania w praktyce analitycznej certyfikowanych materiałów odniesienia przewidzianych dla mosiądzów do przeróbki plastycznej typu M68, M70 (seria MH) i M90, M95 (seria MI) poprzez opracowanie na nich spektralnych metod analitycznych z iskrą niskowoltową, z plazmą indukcyjnie sprzężoną oraz metod fluorescencji rentgenowskiej. Obie serie wytworzonych certyfikowanych materiałów odniesienia zawierają w swym składzie chemicznym następujące składniki stopowe i zanieczyszczenia: Cu (65,93+95,69 %), Zn (3,57+33,41 %), Fe (0,015+0,25 %), Pb (0,0060+0,33 %), Ni(0,0059+0,26 %), Mn (0,0017+0,085 %), Cd(0,0012+0,026 %), Sb (0,000044+0,024 %), Sn (0,0021+0,15 %), Ag (0,0029+0,026 %), As (0,0011+0,072 %), Bi (0,0006+0,0043 %), P (0,0011+0,028 %), S (0,0020+0,049 %), Al (0,0010+0,019 %), Te (0,0004+0,0047 %), Be (0,00004+0,0088 %), Si (0,0032+0,082 %). Wykazano uniwersalność certyfikowanych materiałów odniesienia opracowanych w IMN przystosowanych do wymagań nowoczesnej aparatury spektralnej.

The authors describe a way for quality checking of certified reference materials, produced by IMN Poland, for wrought brasses (cartridge brass MH series and gilding metal MI series) by a developed spectral analytical method, using low voltage argon spark, inductively coupled plasma and X-ray fluorescence methods. The investigated series of certified reference materials (MH and MI) contain the following main elements and impurities: Cu (65.93+95.69 %), Zn (3.57+33.41 %), Fe (0.015+0.25 %), Pb (0.0060+0.33 %), Ni (0.0059+026%),Mn (0.0017+0.085%), Cd (0.0012+0.026%),Sb (0.000044+0.024%), Sn (0.0021+0.15 %), Ag (0.0029+0.026 %), As (0.001 l+aO72%),Bi (O.0006+O.0O43 %) P(0.0011+0.028 %), S (O.002O+0.O49 %), A1 (0.0010+0.019 %), Te (0.0004+0.0047 %), Be (0.00004+0.0088 %), Si (0.0032+0.082 %). The certified reference materials, elaborated by IMN, are of high universality, adapted to the requirements of modern spectral analytical equipment.