Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: specification driven test

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Deterministyczna metoda diagnostyki funkcjonalnej układów analogowych

Jantos P., Golonek T.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2012

Vol. 53, nr 10

45-48

W artykule przedstawiono deterministyczną metodę diagnostyki funkcjonalnej analogowych układów elektronicznych. Prezentowana metoda bazuje na wykorzystaniu aproksymacji specyfikacji obwodu w przestrzeni zdefiniowanej wybranymi cechami odpowiedzi czasowej układu testowanego. W celu oszacowania specyfikacji układu analogowego skorzystano z regresji kwadratowej funkcji dwóch zmiennych. Na podstawie wyznaczonych wartości specyfikacji, podejmowana jest decyzja o jego stanie diagnostycznym. Proponowana metoda diagnostyczna zostala zweryfikowana z wykorzystaniem obwodu przykładowego - filtru dolnoprzepustowego.

There is an analogue electronic circuits deterministic specification driven diagnosis method presented in this paper. This method bases on an approximation of circuit under test (CUT) specifications' in the space defined by the set of a GUT time domain responses features In order to estimate CUT specifications a biquadratic regression has been applied. These values are then used to make a decision whether the CUT is faulty or non-faulty. The proposed diagnosis method has been verified with the use of an exemplary circuit - a low-pass filter.

A functional testing of analogue electronic circuits with the use of specification approximation in the time-domain response features space

Jantos P., Golonek T., Rutkowski J.

Przegląd Elektrotechniczny

2011

R. 87, nr 10

110-113

This paper presents a method for specification driven testing of analogue electronic circuits. The method is based on utilisation of tested circuit response features to a test stimulus. Delaunay’s triangulation is employed for the purpose of finding tested circuit specifications values in spaces defined with response features. Specification maps are used for the purpose of estimating the tested circuits performance quality. A neural network classifier has been utilised to make a decision whether the circuit is fully functional.

W artykule przedstawiono metodę sterowanego specyfikacją testowania analogowych układów elektronicznych. Opracowana metoda bazuje na wykorzystaniu cech odpowiedzi układu na wymuszenie testujące. W przestrzeniach zdefiniowanych przez wartości poszczególnych cech odpowiedzi testowanego układu oraz kolejne specyfikacje, znajdowana jest aproksymacja dystrybucji wartości specyfikacji z wykorzystaniem triangulacji Delaunay’a. Tak przygotowane „mapy” działania układu stosowane są do estymacji wartości specyfikacji, a następnie, za pomocą klasyfikatora neuronowego, do stwierdzenia, czy układ testowany jest sprawny.