Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: sonda skaningowa

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

An investigation into the dynamic performance of CMM scanning probes

Woźniak A.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2004

Vol. 45, nr 8-9

256-258

Preliminary dynamic error characteristics of scanning probe used with coordinate measuring machines are presented as well as a new method of CMM scanning probe testing.

Przedstawiono wstępne charakterystyki błędów dynamicznej pracy sond skaningowych stosowanych w maszynach współrzędnościowych oraz nową metodę testowania sond skaningowych.

Methods of testing of static inaccuracy of the CMM scanning probe

Woźniak A., Dobosz M.

Metrology and Measurement Systems

2003

Vol. 10, nr 2

191-203

Coordinate Measuring Machine (CMM) scanning probe evaluates a stylus tip position in XYZ coordinates with 0.1 [mi]m resolution. Since the scanning probes are very often used for surface macrogeometry measurements, linearity and the overall inaccuracy of such probe should be known. The results of the scanning probe inaccuracy measurements by means of a high resolution interference displacement transducer are presented. Influence of the probe accuracy on the roundness error measurement is analyzed.

Sonda skaningowa, inaczej określana jako mierząca, stanowi w istocie współrzędnościową mikromaszynę mierzącą położenie końcówki we współrzędnych XYZ z rozdzielczością O.1 [mi]m. Nie ustalona jest dotąd metodyka badań tego typu sond. Idea sprawdzania polega na wymuszaniu wychylenia końcówki w zadanym kierunku przestrzeni i wyznaczeniu różnicy pomiędzy wartością rzeczywistego przemieszczenia a wskazaniami XYZ sondy skaningowej. Do wzorcowego pomiaru przemieszczenia końcówki zastosowano zbudowany w Instytucie Metrologii i Systemów Pomiarowych Politechniki Warszawskiej interferencyjny przetwornik przemieszczeń liniowych. W referacie przedstawiono budowę i zasadę działania przetwornika oraz wyniki sprawdzania niedokładności wskazań sondy skaningowej przy zastosowaniu proponowanej metody. Przeprowadzone badania dokładności dostępnych w Polsce różnych typów głowic mierzących stosowanych we współrzędnościowych maszynach pomiarowych pozwoliły wysunąć wniosek, że interferencyjny przetwornik przemieszczeń o wysokiej rozdzielczości może być stosowany do badania dokładności głowic mierzących WMP. Badania dwóch typów głowic mierzących z przetwornikami indukcyjnościowymi VAST XT firmy ZEISS oraz z optoelektronicznymi przetwornikami inkrementalnymi SIP wykazały, że obydwie głowice charakteryzują się podobnym rozrzutem wskazań, nie przekraczającym š0,3 [mi]m. Stwierdzono, natomiast znaczne różnice w nieliniowości wskazań Głowica VAST wykazuje dużą nieliniowość charakterystyki sięgającą do 4 [mi]m w badanym zakresie wskazań. Taka nieliniowość jest charakterystyczna dla głowic, w których zastosowane są przetworniki indukcyjnościowe. Głowice mierzące z optoelektronicznymi przetwornikami inkrementalnymi nie wykazują zwykle dużych błędów nieliniowości wskazań. Badania tego typu głowicy SIP potwierdziły, że błędy nieliniowości są bardzo małe i mieszczą się w rozrzucie wskazań. W artykule przedstawiono również ewentualny wpływ błędów sondy skaningowej na dokładność odtwarzania odchyłek okrągłości podczas pomiaru elementów osiowo-symetrycznych na maszynie współrzędnościowej przy użyciu stolika obrotowego.