Ograniczanie wyników
Czasopisma help
Autorzy help
Lata help
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  software measurement standards metrological traceability
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Wzorce materialne do kalibracji przyrządów do pomiarów stereometrii powierzchni
PL
W artykule przedstawiono charakterystyki metrologiczne grupy nowych wzorców materialnych przeznaczonych do kalibracji przyrządów stykowych i optycznych do pomiarów struktury geometrycznej powierzchni.
EN
The article presents the metrological characteristics of the new material measures intended for calibration of optical and contact instruments for measuring of surface texture.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.