Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: soft faults

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

The On-line Evolutionary Method for Soft Fault Diagnosis in Diode-transistor Circuits

Korzybski M., Ossowski M.

International Journal of Electronics and Telecommunications

2015

Vol. 61, No. 1

109-115

The paper is devoted to diagnostic method enabling us to perform all the three levels of fault investigations - detection, localization and identification. It is designed for analog diode-transistor circuits, in which the circuit’s state is defined by the DC sources’ values causing elements operating points and the harmonic components with small amplitudes being calculated in accordance with small-signal circuit analysis rules. Geneexpression programming (GEP), differential evolution (DE) and genetic algorithms (GA) are a mathematical background of the proposed algorithms. Time consumed by diagnostic process rises rapidly with the increasing number of possible faulty circuit elements in case of using any of mentioned algorithms. The conncept of using two different circuit models with partly different elements allows us to decrease a number of possibly faulty elements in each circuit because some of possibly faulty elements are absent in one of two investigated circuits.

Nowa, metrologicznie zorientowana sieć neuronowa i metoda diagnostyki obiektów technicznych

Zielonko R., Kowalewski M.

Pomiary Automatyka Kontrola

2008

R. 54, nr 3

174-177

W artykule przedstawiono nową, metrologicznie ukierunkowaną sieć neuronową oraz bazującą na niej metodę diagnostyki uszkodzeń parametrycznych układów analogowych, z klasyfikcją neuronową, o zwiększonej odporności na tolerancje elementów układu i niepewności pomiaru. Zaproponowano sieć neuronową z Dwu-centrowymi Radialnymi Funkcjami Bazowymi (DRFB), której walorem jest lepsze odwzorowanie słownika uszkodzeń, poprawa dokładności klasyfikacji i większa odporność na tolerancje, w porównaniu z siecią zawierającą jedno-centrowe radialne funkcje bazowe (RFB). Opisano 2 metody konstrukcji słownika uszkodzeń, w postaci rozproszonych krzywych identyfika-cyjnych, wykorzystujące transformację biliniową oraz analizę składowych głównych. Metodę zilustrowano na przykładzie diagnostyki 2 prostych układów analogowych. Może ona być stosowana do diagnozowania innych obiektów technicznych.

In this paper a new metrologically oriented neural network and method for parametric fault localization and rough identification are presented. The characteristic feature of the network is application of new two-center radial basis functions in the hidden layer. In result, the better classification accuracy, as well as robustness against non-faulty component tolerances and measurement errors has been obtained, in comparison with known Radial Basis Function neural network. Two construction methods of fault dictionary in the form of dispersed identification curves are described: bilinear transformation and principal component analysis methods. The diagnosis method was illustrated on the exemplary 2 analog circuits. It can be used for diagnosis of other technical objects.