Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Modelowanie i Symulacja Satelitarnych Systemów Radarowych

Kędzierawski R., Szczepankiewicz K., Oryszczak W., Soto L., Łukasik A., Wrzesień S., Aleman F. R., Negueruela de C.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2018

|

Vol. 59, nr 3

11--15

PL

W niniejszym artykule opisano wybrane aspekty implementacji dwóch projektów realizowanych aktualnie przez GMV Polska. Projekt BIBLOS-2, stanowiący kontynuację i rozszerzenie projektu BIBLOS, ma za zadanie wykonanie implementacji gotowych algorytmów wykorzystujących karty graficzne do optymalizacji czasu wykonania programu, oraz zdefiniowanie architektury i implementację modułów dla symulatorów misji z aktywnymi i pasywnymi systemami radarowymi. Drugim z opisanych projektów jest projekt „Scatterometer Ground Processor Simulator & Tools GPP in MetOp-SG”, którego celem jest implementacja, integracja oraz przetestowanie algorytmów symulatora systemu radarowego wykorzystywanego do skaterometrii (ang. scatterometry). Projekt realizowany jest na potrzeby misji MetOp-SG we współpracy z firmą Airbus Defence and Space dla Europejskiej Agencji Kosmicznej i Europejskiej Organizacji Eksploatacji Satelitów Meteorologicznych (EUMETSAT).

EN

This article describes selected aspects of implementation of the two projects currently being implemented at GMV Poland. The BIBLOS-2 project, which is a continuation and extension of the BIBLOS project, apart from the parallel implementation of algorithms using passive optics to observe the surface of the Earth, is primarily aimed at defining and implementing algorithms for radar observation of the Earth, both for passive and active radar systems. The second project described in this article is „Scatterometer Ground Processor Simulator & Tools GPP in MetOp-SG”, which aims to implement, integrate, and test algorithms for the Scatterometer within the Metop-SG mission. This project is realized in cooperation with Airbus Defense and Space for the European Space Agency and the European Organization for the Exploitation of Meteorological Satellites (EUMETSAT).

2

Badania porównawcze chropowatości powierzchni gładkich za pomocą skaterometrii, interferometrii i mikroskopii sił atomowych

Synak R., Pawełczak M., Lipiński W., Gocman K.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2013

|

Vol. 54, nr 1

46-53

PL

Opisano aparaturę służącą do badania chropowatości powierzchni działającą na następujących zasadach: rozpraszania światła (skaterometrii metodą TIS), interferometrii światła białego oraz mikroskopii sił atomowych. Głównym celem prac było porównanie wyników pomiarów parametru chropowatości Sq powierzchni gładkich uzyskanych za pomocą nowego układu TIS, tj. integratora fotodiodowego z wynikami otrzymanymi przy użyciu wymienionych przyrządów. Badania przeprowadzono przy wykorzystaniu próbek wykonanych z płytek krzemowych, zwierciadeł optycznych, płytek wzorcowych i innych płytek metalowych. Próbki charakteryzowały się wartościami chropowatości Sq z zakresu od ok. 0,5 do ok. 25 nm. Badania wykazały dużą zgodność wyników pomiaru chropowatości uzyskanych za pomocą integratora i wymienionej aparatury.

EN

Instruments destined for testing smooth surface parameters, based on the following principles: scatterometry (TIS), white light interferometry and atomic force microscopy have been described in the paper. The main purpose of the investigations was comparing measurement results obtained using a novel TIS device, e.g., the photodiode intergrator with results gained from other apparatus. Comparisons have been done by measuring roughness of the following samples: silicon wafers, optical mirrors, size blocks and metal plates. They are characterized by the r.m.s. roughness Sq of 0.5...25 nm. The investigations prove a good agreement of measurement results obtained using the photodiode integrator and other instruments.

3

Badania porównawcze parametrów powierzchni gładkich metodami rozpraszania światła

Jaglarz J., Kapłonek W., Lipiński W., Pawełczak M., Synak R.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2012

|

Vol. 53, nr 12

92-99

PL

Opisano metody i aparaturę służącą do badania parametrów powierzchni opartą na następujących zasadach: pomiaru całkowitej mocy promieniowania rozproszonego przez powierzchnię (TIS), pomiaru kątowego rozkładu natężenia promieniowania rozproszonego (ARS) oraz pomiaru indykatrys promieniowania rozproszonego zmodyfikowaną metodą ARS. Głównym celem prac było porównanie wyników pomiarów chropowatości powierzchni uzyskiwanych za pomocą nowego układu TIS, tj. integratora fotodiodowego i sfery integracyjnej, a także doświadczalne sprawdzenie poprawności założeń przyjmowanych przy projektowaniu integratora. Dokonano tego na podstawie pomiarów za pomocą aparatury ARS rozkładów natężenia promieniowania, pomiarów długości autokorelacji nierówności powierzchni i innych. Badania przeprowadzono przy wykorzystaniu próbek wykonanych z materiałów charakteryzujących się wysokościami nierówności od ok. 0,5 do ok. 25 nm. Badania wykazały dużą zgodność wyników pomiaru chropowatości uzyskanych za pomocą integratora i innej aparatury oraz potwierdziły zasadność przyjętych założeń projektowych.

EN

Methods and instruments destined for testing smooth surface parameters have been described in the paper. They are based on the following principles: total integrated scatter (TIS), angle-resolved scatter (ARS) and modified ARS method. The main purpose of investigations was comparing of roughness measurement results obtained using a novel TIS device, e.g., the photodiode integrator and the integrating sphere, as well as experimental proving validity of assumptions accepted when designing the integrator. They have been accomplished using ARS apparatus for measuring scatter distribution, r.m.s. roughness and autocorrelation length. Investigations have been performed using samples characterized by r.m.s. roughness from 0.5 nm to about 25 nm. They show a good compatibility of results obtained using the integrator and other instruments and confirm correctness of initial assumptions.

4

Wykorzystanie widm dyfrakcyjnych Fresnela w diagnostyce mikrobiologicznej

Buzalewicz I., Wieliczko A., Podbielska H.

Acta Bio-Optica et Informatica Medica. Inżynieria Biomedyczna

|

2012

|

Vol. 18, nr 3

213--219

PL

Zaproponowano nową technikę pomiarową opartą na analizie zjawiska dyfrakcji światła na koloniach bakterii hodowanych na podłożach stałych w układzie optycznym ze zbieżną sferyczną wiązką oświetlającą. Hodowla bakterii na podłożach stałych należy do najpopularniejszych procedur laboratoryjnych wykorzystywanych w mikrobiologii. Zaproponowana konfiguracja układu optycznego daje możliwość rejestracji widm dyfrakcyjnych zarówno Fresnela, jak i Fraunhofera w tym samym układzie i w skończonym obszarze przestrzeni obserwacji, możliwość regulacji rozmiarów poprzecznych widm dyfrakcyjnych, łatwy sposób kalibracji układu oraz niski poziom zniekształcenia widm przez aberracje optyczne. Zaproponowany model fizyczny oparty na skalarnej teorii dyfrakcji pozwolił na wyjaśnienie transformacji światła przez kolonie bakterii w rozważanym układzie optycznym. Uzyskane wyniki badań eksperymentalnych przeprowadzonych na bakteriach: Escherichia coli (0119), Citrobacter freundii, Proteus mirabilis oraz Staphylococcus aureus wykazały, iż kolonie tych bakterii generują widma dyfrakcyjne Fresnela o unikalnej strukturze przestrzennej, co może być wykorzystane w celu ich klasyfikacji. Ponadto wykazano związek pomiędzy zmianami strukturalnymi kolonii bakterii wywołanymi warunkami inkubacji kolonii a ich widmami dyfrakcyjnymi. Uzyskane wyniki wskazują na możliwość zastosowania zaproponowanej techniki pomiarowej w laboratoriach diagnostyki mikrobiologicznej.

EN

The novel measurement method based on analysis of the light diffraction on bacterial colonies grown on solid nutrient media in optical system with converging spherical wave illumination, is proposed. Proposed configuration of optical system enables recording of both Fresnel and Fraunhofer diffraction patterns in the same setup in the finite region of observation space, lateral scaling of diffraction patterns, simple adjusting and low level of optical aberration and coherent noises. Moreover, proposed physical model based on scalar theory of diffraction enables the explanation of light transformation on bacterial colonies in analyzed optical system. Obtained results of experimental examination performed on bacterial colonies of Escherichia coli, Citrobacter freundii, Proteus mirabilis and Staphylococcus aureus species indicated that their colonies generate unique Fresnel diffraction patterns, which can be used for their species classification. Moreover, they the significant correlation between spatial changes of diffraction patterns and the morphological changes of bacterial colonies structure caused by their incubation conditions, is observed. The proposed method has a high application potential for microbiological studies.

5

Metody i aparatura do badania parametrów powierzchni przy wykorzystaniu zjawiska rozpraszania światła

Synak R., Ryżko J.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2011

|

Vol. 52, nr 11

97-100

PL

Scharakteryzowano zwięźle metody pomiarowe stosowane przy określaniu parametrów powierzchni nierównych, głównie wysokości przy wykorzystaniu zjawiska rozpraszania światła. Podano główne zastosowania tych pomiarów. Pokazano zdjęcia i niektóre parametry urządzeń skaterometrycznych wytwarzanych przez przodujących w tej dziedzinie producentów amerykańskich. Przytoczono też informacje o pracach prowadzonych nad taką aparaturą w Polsce.

EN

Measurement methods used for determining rough surfaces parameters, based on light scattering are shortly described. The main applications of this measurements are given. Some photographs and parameters of the scatterometer devices produceded by recognized American companies are shown. Information about works in this area in Poland is also given.

6

Zintegrowana głowica pomiarowa do badania chropowatości powierzchni bardzo gładkich

Synak R., Pawełczak M.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2008

|

Vol. 49, nr 11

266-270

PL

Opisano laserową głowicę służącą do pomiaru chropowatości i reflektancji powierzchni. Działanie przyrządu jest oparte na zasadzie pomiaru parametru TIS, przy czym pomiaru tego dokonuje się za pomocą nowego, specjalnego układu, który umożliwia uzyskanie urządzenia o zwartej budowie i małych rozmiarach. Przytoczono wyniki niektórych badań przyrządu oraz przedstawiono jego główne cechy i parametry.

EN

A handy laser instrument performing non-contact measurements of surface roughness and surface diffuse and specular reflectances is presented. The instrument operates on the principle of measuring the TIS parameter. The distinguishing feature of this scatterometer is the compact measurement head construction, resulting in its small size. Results of some investigations as wellas main features and specifications of the scatterometer are presented.