Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: skaningowa interferometria koherentna

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Skala mikro i nano Nowe możliwości w Zakładzie Metrologii i Systemów Pomiarowych

Wieczorowski Michał, Gapiński Bartosz, Talar Rafał, Stachowska Ewa, Jakubowicz Michał, Grochalski Karol, Kucharski Dawid, Marciniak-Podsadna Lidia, Mietliński Patryk, Swojak Natalia

Stal, Metale & Nowe Technologie

2024

nr 7-8

52--55

W artykule przyglądamy się pomiarom w skali mikro oraz nano. Jakie są trendy rozwoju oraz jakie możliwości w tym zakresie ma Politechnika Poznańska? Z artykułu dowiesz się: jakie trendy rozwojowe towarzyszą pomiarom w skali mikro i nano; jakie możliwości w tym zakresiema Politechnika Poznańska; jak przedstawia się perspektywa w zakresie metrologii dla Polski na tle innych krajów Europy.