Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Compact model for fast analytical evaluation of soft error rate in highly scaled memory circuits in space environment

Zemtsov K., Zebrev G., Gorbunov M., Maslovsky A.

Przegląd Elektrotechniczny

|

2016

|

R. 92, nr 8

48--51

EN

It is shown that traditional analytical formula for soft error rate estimation (figure-of-merit) in digital memories in space environment can lead to large uncertainties. An alternative approach, based on another representation of experimental data, has been proposed.

PL

Przedstawiono, że tradycyjna formuła analityczna do szacowania stopnia miękiego błędu (współczynnik jakości) w pamięci cyfrowej w przestrzeni kosmicznej może prowadzić do dużych niepewności. Zaproponowano alternatywne podejście, oparte na innych danych eksperymentalnych. kompaktowy model do szybkiej oceny analitycznej miękkie stopy błędu w bardzo skalowane układów pamięci w przestrzeni kosmicznej.

2

Cyfrowy synchroniczny układ ASIC, jako detektor promieniowania neutronowego

Romiński A., Makowski D., Napieralski A.

Pomiary Automatyka Kontrola

|

2010

|

R. 56, nr 7

652-655

PL

Artykuł przedstawia projekt selektywnego detektora promieniowania neutronowego, zbudowanego z wykorzystaniem układu cyfrowego wrażliwego na odwracalne błędy pojedyncze SEU (ang. Single Event Upset). Dla zwiększenia wrażliwości struktury rejestru na występowanie odwracalnych błędów SEU opracowano szereg metod, zaprezentowanych w artykule. Przedstawiono też symulacje określające warunki poprawnej pracy oraz parametry układu, które zgodnie z zapewnieniem dostawcy technologii powinien spełniać.

EN

The paper deals with neutron radiation detector design. The neutron detector was designed with application of sensitive to reversible Single Event Upsets (SEUs) digital circuit. The detector bases on a modified shift register (see Fig. 3), using dual supply voltage.. The paper presents a number of methods that were developed to enhance sensitivity of the detector to reversible SEUs. There are discussed physical phenomena that influence the technological fabrication process and topology of the integrated circuit. There are given some exemplary parameters of the designed register (input capacitance, clock-to-output delay) for the internal flip-flops, the pre-layout, as well as the post-layout (with extracted parasitic components) simulations, with visible (e.g. approx. 2-3 times) difference between the ideal (pre-layout) and real (post-layout) design. The simulation tests and the final layout (see Fig. 4) were prepared using CADENCE IC environment in 6.1.4 version, as a process design kit for chosen ITE CMOS technology. The general research background and realisation perspective (selected foundry run) are shown in the conclusion paragraph. Also the perspectives for a future testbench circuit in real and factual radiation environment are briefly described.

3

Compiler-level implementation of single event upset errors mitigation algorithms

Piotrowski A., Tarnowski S.

International Journal of Microelectronics and Computer Science

|

2010

|

Vol. 1, nr 1

65-68

EN

Single Event Upset is a common source of failure in microprocessor-based systems working in environment with increased radiation level especially in places like accelerators and synchrotrons, where sophisticated digital devices operate closely to the radiation source. One of the possible solutions to increase the radiation immunity of the microprocessor systems is a strict programming approach known as the Software Implemented Hardware Fault Tolerance. Unfortunately, a manual implementation of SIHFT algorithms is difficult and can introduce additional problems with program functionality caused by human errors. In this paper author presents new approach to this problem, that is based on the modifications of the source code of the C language compiler. Protection methods are applied automatically during source code processing at intermediate representation of the compiled program.

4

Influence of space charged particles on satellite optical communication system

Hou R., Zhao S., Xu J., Wu J., Li Y., Zhan S., Shi L., Fang S.

Optica Applicata

|

2009

|

Vol. 39, nr 2

251-265

EN

Although research of satellite optical communication system has been carried out for many years, there is scarce literature to comprehensively analyze the influence of space environment on satellite optical communication system. Different kinds of particles and fields exist in the space environment, including high energy charged particles, solar radiation, plasma environment, space fragment, etc. The Influence of space charged particles on satellite optical communication system was investigated in detail, which mainly related to single event upset (SEU), total dose effect and plasma environment. For SEU analysis the relation between single proton upset rate and satellite orbit was analyzed in detail. The reliability index of equipment based on SEU was proposed, the numerical calculation results have proved that the SEU effect was relatively less and corresponded to higher reliability of SRAM/MOS equipment under lower orbit altitude and inclination. For plasma environment analysis there is no obvious influence of plasma on laser signal transmission. But charging and discharging processes on satellite surface would lead to the malfunction of satellite communication system. The influence of charged particles and its related plasma on satellite optical communication system was investigated, which would be helpful for the design and the improvement of performance of satellite optical communication system.

5

The impact of radiation on electronic devices with the special consideration of neutron and gamma radiation monitoring

Makowski D.

Zeszyty Naukowe. Elektryka / Politechnika Łódzka

|

2007

|

z. 111

73-80

EN

This paper reports the work done in the development of a new neutron fluence sensor and a radiation-tolerant readout system. The presented SRAM-based neutron fluence dosimeter is particularly useful for a design of a real time monitoring system, whereas the readout system enables its operation in the radioactive environment. The well-known RadFET dosimeter was utilized for the gamma radiation measurement. Despite the fact that the design of the radiation monitoring system is dedicated to FLASH, both the neutron fluence detector and the readout system can be utilised in other applications. The system can be employed to gauge neutron and gamma radiation doses in various accelerators, colliders and detectors used for the analysis of high-energy collisions products.

PL

Praca dotyczy ważnej tematyki wpływu promieniowania gamma oraz neutronowego na pracę układów elektronicznych. Autor zaproponował wykorzystanie komercyjnie dostępnej pamięci statycznej SRAM do detekcji neutronów oraz zbudował kilka prototypów układów odczytowych zdolnych do pracy w warunkach podwyższonego promieniowania. Warty podkreślenia jest fakt, że zaprojektowany detektor oraz zabudowane prototypy zostały zbudowane z komercyjnie dostępnych układów oraz praktycznie przebadane. Zaprojektowany system do monitorowania promieniowania gamma oraz neutronowego w czasie rzeczywistym RadMon (Radiation Monitor) został zainstalowany w pięciu wyznaczonych miejscach w tunelu akceleratora FLASH znajdującego się w ośrodku naukowo-badawczym DESY. Układ został zaprojektowany pod kątem pomiaru promieniowania w akceleratorach FLASH oraz X-FEL, jednak może zostać wykorzystany do pomiaru promieniowania w innych akceleratorach fizycznych i medycznych. W pracy przedstawiono projekt detektora fluencji neutronów zbudowanego w oparciu o pamięć statyczną SRAM. W czasie kilkuletnich badań przetestowano ponad sto różnych egzemplarzy pamięci statycznych oraz nieulotnych pamięci statycznych NVRAM. W trakcie badań zauważono, że nowoczesne pamięci o dużych pojemnościach wyprodukowane w nowoczesnych technologiach wykazują mniejszą wrażliwość na występowanie błędów SEU niż pamięci starsze. Z tego względu czułość detektora nie może zostać zwiększona poprzez użycie nowoczesnych pamięci o coraz to większych pojemnościach. W celu poprawy czułości detektora opracowano szereg metod zwiększających wrażliwość pamięci statycznej na błędy SEU. Podczas badań wykorzystywano pamięci NVRAM do pomiarów względnych promieniowania neutronowego oraz do oszacowania bezwzględnej fluencji neutronów. Zaprojektowano dedykowany układ odczytowo-programujący nieulotne pamięci statyczne oraz opracowano metody umożliwiające bezpieczne przechowywanie informacji konfiguracyjnych w pamięciach NVRAM. W ramach doktoratu zbudowano i przebadano pięć wersji układów odczytowych wykorzystujących różne algorytmy i rozwiązania układowe do korekcji błędów wygenerowanych przez neutrony. Zaproponowano metody pozwalające na projektowanie układów tolerujących błędy wywołane promieniowaniem. Zaprojektowany detektor fluencji neutronów oraz układy odczytowe zostały praktycznie przebadane podczas eksperymentów ze źródłem neutronów wykorzystującym izotop ameryku 241AmBe oraz w tunelach akceleratorów FLASH i LINAC II.