Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Przegląd Elektrotechniczny

1 2024

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!
Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: signal electronic

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Educational scanning tunneling microscope – open architecture platform for nanotechnology teaching and nanometrology research

Pruchnik Bartosz, Sikora Andrzej, Gajewski Krzysztof, Świadkowski Bartosz, Smagowski Piotr, Badura Dominik, Kwoka Krzysztof, Piasecki Tomasz, Gotszalk Teodor

Przegląd Elektrotechniczny

2024

R. 100, nr 6

200--204

In this paper, we present the in-house hardware and software platform allowing to perform the demonstrations of the design and operation of scanning tunneling microscope (STM) and derivative diagnostic techniques, enabling the determination of the properties of the surface at the nanoscale. The main advantage of the described setup is an open architecture, which is essential in terms of providing full insight into certain aspects of the construction and the ways the measurements are performed. Due to the modular design of the platform, students can excel in their competencies within various forms of learning activity, including basic training classes and diploma works. The described solution is a unique setup that was developed using the experience of the researchers at the Department of Nanometrology, Wrocław University of Science and Technology.

W pracy przedstawiamy platformę edukacyjnego skaningowego mikroskopu tunelowego pozwalającego na badania powierzchni w skali nanometrycznej. Zasadniczą zaletą zaprojektowanej konstrukcji jest jej otwarta architektura pozwalająca na prowadzenie różnorodnych eksperymentów zarówno dydaktycznych jak i wysokospecjalizowanych prac naukowych. Przedstawiony system został zaprojektowany w ramach prac dyplomowych i doktorskich w Katedrze Nanometrologii Wydziału Elektroniki, Fotoniki i Mikrosystemów Politechniki Wrocławskiej.