Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  sialonowa ceramika narzędziowa
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
W pracy przedstawiono wyniki badań cienkich powłok (Ti,Al)N oraz Ti(C,N) wytwarzanych metodą katodowego odparowania łukowego (CAE-PVD) na płytkach wieloostrzowych ze sialonowej ceramiki narzędziowej. Obserwacje topografii powierzchni i przełomów badanych powłok wykonano w skaningowym mikroskopie elektronowym. Analizy składu chemicznego powłok dokonano metodą spektroskopii rozproszonego promieniowania rentgenowskiego (EDS) natomiast analizy składu fazowego metodą dyfrakcji rentgenowskiej (XRD). Przyczepność powłok do podłoża zbadano metodą rysy (Scratch test) wyznaczając obciążenie krytyczne LC będące miarą adhezji. Stwierdzono, że powłoki charakteryzują się dobrą przyczepnością do podłoża. Twardość powłok mierzona metodą Vickersa wynosiła odpowiednio 2300 i 2400 HV0,05, natomiast twardość ceramicznego podłoża 1300 HV. Współczynnik chropowatości Ra wyznaczono za pomocą skaningowego mikroskopu konfokalnego.
EN
This paper introduce the investigations results of (Ti, Al)N and Ti(C, N) thin films obtained by cathode arc evaporation method (CAE-PVD) on sialon tool ceramics multipoint cutting tools. Observations of surface topography and coatings fracture were performed by the use of the scanning elektron microscope. Analyses of the coating chemical composition were executed with utilization of energy dispersive X-ray spectroscopy method (EDS). Substrate analysis was made with the use of X-ray diffraction method (XRD). Critical load Lc, which is the coats adhesion measure, was determined by the scratchtest method. Investigations confirmed, that coats reveal good adhesion to the substrate. Results of Vickers microhardness tests are appropriately 2300 and 2400 HV0,05 with the substrate hardness of 1300 HV. The Ra roughness was determined by the use of laser scanning confocal microscope.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.