Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Badania Nieniszczące i Diagnostyka

1 2018

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: sensor półprzewodnikowy

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Data science approaches to diagnostics of metal stress-strain state using semiconductor sensor suitable for system design

Balitskii O., Kolesnikow W., Owsyannikow A., Lizunow S., Eliasz J.

Badania Nieniszczące i Diagnostyka

2018

nr 1

28--32

Article describes the data science approaches to diagnostics of metal stress-strain state using semiconductor sensor suitable for system design. It has been described the elongation curves (on permanent loading 370-450 MPa) in time of St3 (kp, sp) specimens in initial state, after treatment in He and H2 with pressure 35 MPa and temperature 623 К during 10 hours as well as a curves of the average signal of semiconductor sensors that controls this process and spectral sensitivity of the semiconductor sensors of the visible range depending on the time of the exposure of the samples.

W artykule pokazano możliwość diagnozowania stanu naprężenia-odkształcenia w metalach za pomocą sensorów półprzewodnikowych, przydatne dla zbioru danych naukowych i projektowania systemowego. Przedstawiono krzywe wydłużenia (przy stałym naprężeniu 370-450 MPa) w czasie próbek ze stali St3 (kp, sp) w stanie wejściowym, po obrobce w He i w H2 z ciśnieniem 35 MPa przy temperaturze 623 К w ciągu 10 godz., a także krzywe średniego sygnału sensora półprzewodnikowego, który obserwuje ten proces i czujność spektralna sensorów półprzewodnikowych diapazonu widocznego w zależności od czasu ekspozycji próbek.