Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 4

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  semiconductor detector
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
The aim of this experimental work was to examine whether semiconductor photodetectors may be applied for the efficient reading of thermoluminescent dosimeter (TLD) signals. For this purpose, a series of experiments have been performed at the Department of Physics, Warsaw University of Technology, in cooperation with the Central Laboratory for Radiological Protection (CLOR). Specifically, the measurement system proposed here has been designed to detect a signal from TLDs that use a semiconductor detector operating in conditions analogous to those met when using commercial devices equipped with a classic photomultiplier. For the experimental tests, the TLDs were irradiated with a beam of 137Cs radiation in the accredited Laboratory for Calibration of Dosimetric and Radon Instruments. Eventually, a comparison of the results obtained with a semiconductor detector (ID120) and a commercial TLD reader with a photomultiplier tube (RADOS) were made.
PL
Przedstawiono system przeznaczony do trójwymiarowej (3D) rekonstrukcji powierzchni w skaningowym mikroskopie elektronowym (SEM), złożony z kwadrupolowego detektora półprzewodnikowego elektronów wstecznie rozproszonych, czterokanałowego sytemu cyfrowej akwizycji sygnałów i systemu przetwarzania opartego na komputerze klasy PC. Autorzy zastosowali tu metodę wykorzystującą specyficzny rozkład kątowy elektronów wstecznie rozproszonych na powierzchni próbki. Algorytmy przetwarzania sygnałów związane z procesem rekonstrukcji powierzchni zostały uzupelnione o procedury kompensacji błędów metody. Dzięki temu, po wstępnej kalibracji, system pozwala odtworzyć topografię powierzchni z dokładnością lepszą niż 10%, jeśli nachylenia nie przekraczają 60°. Pozwala także na odtworzenie kształtu bardzo gładkich powierzchni i może działać bardzo szybko, niemal w "czasie rzeczywistym" dostarczając informacji o kształcie powierzchni obiektów niezależnie od ich składu materiałowego.
EN
A 3D surface reconstruction system for SEM consisting of a quadruple semiconductor detector of backscattered electrons, a four-channel framegrabber and PC-based processing unit, is presented. The authors explored a method that takes advantage of the angular distribution of backscattered electrons to obtain quantitative topography contrast and visualise the surface shape. Software processing algorithms were developed to carry out the reconstruction process and compensate several types of errors, inherent in the method. After pre-calibration, the system allows to obtain surface topography with accuracy better than 10% when maximum slope angles are below 60°. It is also capable to reconstruct the shapes of very smooth surfaces and can operate very quickly, almost in real-time, providing reliable, composition-independent reconstructions for a broad class of materials.
EN
Thermoluminescent and semiconductor detectors operating in an integrating mode have been applied to the measurement of X-ray flashes of high intensity from large plasma facilities. A detection head of special kind has been developed to perform comparison measurements with the use of the detectors of both kinds.
EN
A compact, three-channel, noise-resistant detection head based on semiconductor detectors has been built for the diagnostics of X-ray emission from plasmas. It is useful in the energy range of 0.5–20 keV.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.