Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  semi analytical calculation
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
This paper highlights the robustness of the semi analytical computation so-called ‘coupled circuit’ method for the simulation of the eddy current method integrated in the commercial non-destructive testing, 3MA equipment. For this purpose, semi-analytical development are carried out for calculation of voltage around eddy current- receiver coil, taking into account the skin depth of the sample. The challenge in the following is to reproduce the eddy current 3MA measuring quantities on conductive and ferromagnetic materials under several inspection situation. Furthermore, eddy current parameters will be underlined in impedance diagram varying the frequency and lift-off.
PL
W artykule podkreślono niezawodność półanalitycznych obliczeń, tak zwanej metody „obwodów sprzężonych”, do symulacji metody prądów wirowych zintegrowanej z komercyjnymi badaniami nieniszczącymi, sprzęt 3MA. W tym celu przeprowadza się półanalityczne opracowanie obliczania napięcia wokół cewki odbiorczej prądu wirowego z uwzględnieniem głębokości naskórka próbki. Wyzwaniem w dalszej części jest odtworzenie wielkości pomiarowych prądów wirowych 3MA na materiałach przewodzących i ferromagnetycznych w kilku sytuacjach kontrolnych. Ponadto parametry prądów wirowych zostaną podkreślone na wykresie impedancji, zmieniając częstotliwość i oderwanie.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.