PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 10

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  self-testing
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote A method of self-testing of an analog circuit terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers
Czaja Z.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2016
|
R. 92, nr 11
19--22
EN
A new self-testing method of analog parts terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented. It is based on a new fault diagnosis method based on on-line (i.e. during measurement), transformations of voltage samples of the time response of a tested part to a square pulse - onto localization curves placed in the measurement space. The method can be used for fault detection and single soft fault localization.
PL
Przedstawiono nową metodę samotestowania toru analogowego zakończonego przetwornikiem A/C w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ona na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniach transformujących na bieżąco, tj. w trakcie pomiarów, próbki odpowiedzi czasowej badanej części analogowej na pobudzenie impulsem prostokątnym na krzywe lokalizacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w układach analogowych.
2
Content available Samotestowanie toru analogowego ze wzmacniaczem w pełni różnicowym w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami
Czaja Z.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2014
|
R. 60, nr 9
737--740
PL
Przedstawiono nową metodę samotestowania toru analogowego opartego na wzmacniaczu w pełni różnicowym w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ona na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowej badanej części analogowej na pobudzenie "ujemnym" impulsem prostokątnym na wejściu Vocm na krzywe identyfikacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w układach analogowych.
EN
A new self-testing method of analog parts based on fully differential op-amps in electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented. It bases on a new fault diagnosis method based on transformation of voltage samples of the time response of a tested part on a "negative" square pulse at the Vocm input into localization curves placed in the measurement space. The stimulation pulse is generated by the short circuit of the signal at the Vocm input to the ground. The method can be used for fault detection and single soft fault localization. For the method there were developed: the measurement procedure whose algorithm is partly implemented in the program code of the microcontroller and partly included in the configuration of its peripheral devices, the ways of selection of diagnosis method parameters such as: the duration time T of the stimulation, that is short circuit of the signal Vocm to the ground signal, the size K of the measurement space and voltage sample moments, and also the fault dictionary determined experimentally. The approach is illustrated on the microsystem controlled by the ATXmega32A4 microcontroller. A low-pass 2nd order filter in the MFB topologies was selected as the tested analog part.
3
Content available Realizacja samo-testowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A
Czaja Z.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2013
|
R. 59, nr 4
368--371
PL
Przedstawiono mikrosystem pomiarowy zbudowany z zasobów sprzętowych mikrokontrolera ATXmega32A4 pełniący funkcję układu testera wbudowanego przeznaczonego do samotestowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych. Samotestowanie opiera się na metodzie diagnostycznej, w której układ badany pobudzany jest impulsem prostokątnym, a jego odpowiedź czasowa próbkowana przez przetwornik A/C mikrokontrolera. Licznik mikrokontrolera ustala czas trwania impulsu oraz momenty próbkowania.
EN
A measurement microsystem based on hardware resources of the ATXmega32A4 microcontroller working as a BIST (Built-in Self Tester) used for self-testing of analog parts of embedded electronic systems is presented in the paper. Self-testing is based on the fault method [5], in which a tested analog part is stimulated by a single square pulse and its time response is sampled K times (K = 3) by the ADC (Analog to Digital Converter) (Fig. 1). A microcontroller timer determines the duration time of the square pulse and sets the sample moments of the ADC. The self-testing approach consists of: the pre-testing stage of fault dictionary creation (the fault dictionary has the form of a family of identification curves (Fig. 2)), the measurement procedure and the fault classification procedure. The proposed BIST consists of one timer working in the Compare Mode, an event system and a 12-bit ADC of the microcontroller (Fig. 3). The events generated by channels CHA, CHB and CHC compare matches of the timer are routed via the event system to the ADC (Fig. 7). They trigger measurements on three ADC channels CH0, CH1 and CH2 adequately (Fig. 4). The channel CHD compare match event is used to set up the duration time of the stimulant pulse. The BIST works according to the measurement procedure whose timing is shown in Fig. 5 and the algorithm in Fig. 6. The main advantages of the presented solution are better BIST parameters and the simpler measurement algorithm in comparison to the previous solutions [5-7].
4
Content available remote Wykorzystanie przetworników A/C wbudowanych w mikrokontrolery do pomiarów parametrów sygnałów zmiennych
Czaja Z.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2010
|
R. 86, nr 9
5-8
PL
W artykule przedstawiono nową metodę pomiaru parametrów przebiegów sinusoidalnych, takich jak okres, amplituda i napięcie offsetu, opracowaną dla elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Ideą metody jest utworzenie z wewnętrznych pomiarowych urządzeń peryferyjnych mikrokontrolera (liczników, przetworników A/C i komparatorów analogowych) rekonfigurowanych mikrosystemów pomiarowych cechujących się dużą elastycznością konfiguracyjną i niskim kosztem aplikacji. Przeprowadzono również ocenę niepewności pomiaru napięcia zaproponowaną metodą. Jej wyniki określają rozdzielczość i niepewność pomiaru napięć oraz dozwolone pasmo częstotliwości sygnałów mierzonych dla zaproponowanej metody.
EN
A new method of sinusoidal signal parameter measurements (the period, the amplitude and the offset voltage) elaborated for electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented in the paper. The idea of the method bases on using internal measurement peripheral devices of microcontrollers (timers/counters, analog to digital converters (ADCs) and analog comparators) to create reconfigurable measurement microsystems. A 16-bit timer controlled by an analog comparator is used to determine the signal period, and a 10-bit ADC triggered by the 16-bit timer measures three voltage samples which are used to calculations of the signal amplitude and the offset voltage. These microsystems are configuration-flexible and projected for low-cost applications. An estimation of the voltage measurement uncertainty for the method was made. The results describes the resolution and the uncertainty of voltage measurements and also the permissible range of frequencies of measured signals. Thanks to these results, it is possible to estimate the usefulness of the method for a given application.
5
Content available Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów
Czaja Z.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2007
|
R. 53, nr 9 bis
731--734
PL
W artykule przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń parametrycznych elementów pasywnych w częściach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację uszkodzeń w układach z tolerancjami. W części pomiarowej metody badany układ pobudzany jest impulsem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez wewnętrzny przetwornik A/C mikrokontrolera. Następnie mikrokontroler wykonuje detekcję i lokalizację uszkodzeń opierając się na algorytmie bazującym na słowniku uszkodzeń, wygenerowanym na podstawie rodziny pasów lokalizacyjnych opisującej właściwości układu badanego.
EN
In the paper the new method of soft fault detection and localisation of passive elements in analog parts of electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented. The method enables to detect and to localize faults in circuits with tolerances. In the measurement part of the method the tested circuit is stimulated by a square impulse generated by the microcontroller, and its response is sampled by the internal ADC of the microcontroller. Next, the microcontroller realizes the fault detection and localisation according to the algorithm, which bases on the fault dictionary. The fault dictionary was generated from the family of localisation belts, which describes proprieties of the tested circuit.
6
Diagnostyka uszkodzeń analogowych we wbudowanych systemach elektronicznych z wykorzystaniem interpretera logiki rozmytej
Czaja Z., Załęski D.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2007
|
Vol. 48, nr 9
17-22
PL
Przedstawiono nowe podejście do samotestowania toru analogowego w systemie wbudowanym sterowanym mikrokontrolerem z wykorzystaniem metody detekcji i okalizacji pojedyńczych uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych elementów pasywnych w układach analogowych. W etapie pomiarowym badany tor analogowy pobudzany jest okresowym przebiegiem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, ajego odpowiedź jest próbkowana przez wewnętrzny przetwornik A/C mikrokontrolera w momentach ściśle określonych przez jego wewnętrzny licznik. Następnie mikrokontroler bazując na zestawie funkcji realizujących operacje na zbiorach rozmytych zwanych "interpreterem logiki rozmytej (ILR)", wyniku pomiarowym i słowniku uszkodzeń składającym się ze zbiorów reguł i funkcji przynależności dokonuje detekcji i w przypadku wykrycia uszkodzenia jego lokalizacji. Słownik uszkodzeń jest tworzony w etapie przedtestowym z rodziny pasów lokalizacyjnych, które z kolei powstają przez rozmycie krzywych identyfikacyjnych w wyniku uwzględnienia tolerancji elementów nieuszkodzonych.
EN
A new approach of self-testing of an analog part in mixed-signal embedded system controlled by a microcontroller is presented. It bases on a method of detection and localisation of single hard and soft faults of passive elements in analog circuits. At a measurement stage the tested analog part is stimulated by a periodical square-wave signal generated by the microcontroller, and its response is sampled by an internal ADC of the microcontroller in moments exactly established by an internal timer of the microcontroller. Next, the microcontroller makes fault detection and fault localisation based on a set of function realizing operations on fuzzy sets named "an interpreter of a fuzzy logic (IFL)", a measurement result and a fault dictionary consisted of rule sets and membership functions. The fault dictionary is created in pretesting stage from a family of localisation belts, which are created by fuzziness of identification curves in result of taking into account tolerances of no-faulty elements. Identification curves placed in a measurement result plane illustrate behavior of tested circuit incoming from failures of elements (hard faults) and changes of values of elements (soft faults).
7
Content available remote Analog fault signature based on sigma-delta modulation and oscillation-test methodology
Toczek W.
Metrology and Measurement Systems
|
2004
|
Vol. 11, nr 4
363-375
EN
An analog fault signature for oscillation-based built-in self-test (OBIST) scheme is proposed. The sigma-delta modulation properties are used to obtain a digital code of the oscillator time domain response. Fault signature in the digital form can be easily interpreted by a purely digital circuit. The signature synthesiser consists of a peak detector, a sigma-delta modulator and an up/down counter. In the paper, features of sigma-delta signature based on impulse response are compared with one derived from the step response. Simulation results, on the example of the Meacham oscillator, reveal the superior diagnostic relevance of the impulse response signature. Concurrent use of signatures from both responses in order to increase the diagnostic sensitivity of the oscillation-test method is also possible.
PL
W artykule dokonano przeglądu prac z zakresu testowania układów elektronicznych metodą oscylacyjną. Wskazując na niedostatki aktualnie stosowanej techniki testowania oscylacyjnego zaproponowano nową sygnaturę uszkodzeń dla układów analogowych. Proponowany parametr diagnostyczny jest wydobywany z odpowiedzi czasowej oscylatora testującego, w układzie złożonym z detektora szczytowego, modulatora sigma-delta oraz licznika rewersyjnego. Porównano właściwości sygnatury uzyskiwanej z odpowiedzi impulsowej oscylatora z sygnaturą bazującą na odpowiedzi skokowej. Wyniki badań symulacyjnych, przeprowadzonych w środowisku Matlab-Simulink na przykładzie generatora Meachama, wskazują na większą wrażliwość diagnostyczną sygnatury impulsowej. Łączne stosowanie sygnatury z innymi parametrami diagnostycznymi zwiększa współczynnik pokrycia uszkodzeń oraz umożliwia lokalizację uszkodzenia. Do realizacji testu wystarczające są proste środki techniczne, co sprzyja zastosowaniu proponowanej metody w układach samotestujących się.
8
Content available Zastosowanie integratora stochastycznego w procesie otrzymywania wyników samotestowania układów hybrydowych
Jarmolik V., Gruszewski M.
Zeszyty Naukowe Politechniki Białostockiej. Informatyka
|
2002
|
Z.1
61-69
PL
W pracy przeprowadzono badanie odwzorowania niesprawności testowanego układu w błędy różnego stopnia. Na podstawie tych badań przedstawiony został taki sposób otrzymywania wyników testowania, który jest najbardziej odpowiedni (pozwala zwiększyć wiarygodność
EN
The work proposes the analysis of an inefficiency of a tested system in different degree errors. On the ground of this examination the most applicable method of receiving test results is presented. It allows to increase the credibility of results during hybrid built-in self-tests.
9
Content available Cyfrowy generator sygnałów sinusoidalnych do testowania i weryfikacji układów analogowo-cyfrowych
Jarmolik V., Gruszewski M.
Zeszyty Naukowe Politechniki Białostockiej. Informatyka
|
2002
|
Z.1
53-61
PL
W artykule przedstawiony jest cyfrowy generator sygnałów sinusoidalnych, który wchodzić może w skład uniwersalnego modułu do samotestowania układów analogowo-cyfrowych (mixed-signal). Sygnał sinusoidalny okazuje się najbardziej złożonym sygnałem (z punktu widzenia jego kształtowania) w porównaniu z innymi sygnałami (np. trójkątnym, piłokształtnym, czy prostokątnym). Tradycyjnie generator sygnału sinusoidalnego zbudowany jest z układu sterowania i bloku pamięci, w której znajdują się dyskretne próbki 1/4 części okresu tego sygnału. Przedstawione w artykule podejście oparte jest na wykorzystaniu stochastycznego integratora, który jest podstawowym elementem generatora. Praca generatora sprawdzona została przy pomocy symulacji komputerowej.
EN
The article describes the digital generator of sinusoidal signals which can be a part of a universal module designed for a self-testing of mixed-signal systems. The sinusoidal signal appears to be the most complex (considering its construction) in comparison with the others (e.g. triangular, pentagonal, rectangular signals). A standard generator of a sinusoidal signal is built by a control unit and a block of memory. A memory contains discreet samples of 1/4 part of a period of a sinusoidal signal. The approach presented in the article is based on idea of a stochastic integrator- a fundamental constituent of a generator. The work of a generator was tested by a computer simulation.
10
Functional and dependable testing of identical digital structures on wafer
Gamża W., Hławiczka A., Kopeć M.
Archiwum Informatyki Teoretycznej i Stosowanej
|
2002
|
T. 14, z. 3
203-217
EN
In this paper we present a method of functional testing of N identical digital structures on a wafer, which allows an increase in production yield. In order to decrease the number of measure points the IEEE1149.1 architecture was implemented in every structure. The use of a build-in self-tester with test-per-clock testing equipped with a specially modified MISR-NOT compactor allowed a test time reduction and the achievement of dynamical, reliable testing. The modification of the IEEE 1149.1 architecture presented in this paper enables to fully exploit the features of the MISR-NOT register. Moreover the testing scheme of a single structure as well as scheme of a testing of all N structures on a wafer is presented.
PL
W pracy przedstawiono metodę dynamicznego funkcjonalnego testowania N identycznych struktur cyfrowych na płytce krzemowej umożliwiającą zwiększenie uzysku produkcyjnego. W celu zmniejszenia liczby ostrzy pomiarowych wprowadzono do każdej struktury sprzęg IEEE 1149.1. Dynamiczne, wiarygodne oraz skrócone testowanie uzyskano dzięki wprowadzeniu do każdej struktury testera wewnątrz układowego umożliwiającego testowanie typu "test-per-clok" i wyposażonego w specjalny kompaktor w postaci rejestru MISR-NOT. W pracy zaproponowano modyfikacje sprzętowe sprzęgu IEEE 1149.1 umożliwiające efektywne wykorzystanie właściwości rejestru MISR-NOT pozwalających na jego wiarygodne testowanie. Ponadto opisano scenariusz testowania pojedynczej struktury cyfrowej oraz plan testowania wszystkich N struktur cyfrowych N struktur na płytce krzemowej. Pracę zakończono wnioskami.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.