PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  self-testable circuits
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote CAD package for designing of self-testable VLSI circuits
Bojanowicz D.
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
|
1998
|
Vol. 46, nr 4
514-523
EN
The paper presents a modern CAD package, which aims designers in designing and verification of self-testable VLSI digital circuits.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.