Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 2007

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: samoafiniczność

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Zastosowanie mikroskopii sił atomowych (AFM) w diagnostyce warstwy wierzchniej

Bramowicz M., Kłysz S.

Prace Naukowe Instytutu Technicznego Wojsk Lotniczych

2007

nr 22

159-166

W niniejszej pracy przedstawiono mikroskopię sił atomowych jako zaawansowaną metodę inżynierską, dającą szerokie możliwości w nowoczesnej kontroli jakości wysokiej klasy elementów optyki, fotoniki czy półprzewodników. Ponadto silnie zaakcentowano konieczność opisu morfologii warstwy wierzchniej poprzez podanie wymiaru fraktalnego oraz długości korelacji jako zasadniczych parametrów opisujących samopodobieństwo oraz samoafiniczność powierzchni elementów technicznych. Przytaczaną metodykę poparto badaniami eksperymentalnymi, w ramach których przeprowadzono analizę fraktalną topografii powierzchni cienkiej folii stopu Heuslera typu Ni-Mn-Ga z zastosowaniem metody RMS (Root Mean Square).

This paper introduces the Atomic Force Microscopy as an advanced engineering method that offers great potential in the modern, high-class quality control of optic, photonic, and semiconductor elements. Furthermore, what has been strongly emphasized is a real need to describe the morphology of a surface layer using the fractal parameter and the correlation length as fundamental parameters that describe self-similarity and self-affinity of surfaces of technical elements. The methodology shown in the paper is supported with some effects of experimental work, including fractal analysis of the topography of the surface of thin Ni-Mn-Ga type Heusler alloy with the Root Mean Square (RMS) method.