Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  rozrzut technologiczny
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
Przedstawiono symulacyjną metodę wyznaczania wpływu temperatury i rozrzutu technologicznego na eksploatację wybranego układu elektronicznego.
EN
The paper presents simulation method of determination an influence of temperature and technology dispersion on operation of selected electronic circuit.
PL
Artykuł dotyczy problemu wpływu rozrzutu procesu technologicznego na parametry wysokoczęstotliwościowych scalonych układów RF do komunikacji bezprzewodowej. Dla zilustrowania skali tego wpływu, przedstawiono wyniki własnych symulacji niektórych bloków funkcjonalnych stosowanych w nadajniku/od bioniku (transceiver) dla technologii CMOS 0,35μm. Następnie, na podstawie najnowszej literatury omówiono wybrane, układowe metody automatycznego dostrajania (autokalibracji) parametrów syntezera częstotliwości z pętlą PLL, wejściowego wzmacniacza niskoszumnego LNA oraz mieszaczy z przemianą bezpośrednią i z częstotliwością pośrednią.
EN
The paper deals with impact of process variations on parameters of high frequency RF integrated circuits for wireless communication. To illustrate the scale of this impact some results of own simulation of selected functional blocks used in transceivers for CMOS 0.35 μm process were presented. Next, basing on recent publications the chosen methods of automatic tuning (self-calibration) of main parameters of frequency syntesizer with PLL, input low noise amplifier and down - conversion mixers using dedicated on-chip circuits, are reviewed.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.