Zmiany grubości warstwy smektycznej, intensywności pliku dyfrakcyjnego i jego połówkowej szerokości zostały zbadane w zależności od temperatury dla otrzymanych ostatnio estrów mających antyferroelektryczną fazę smektyczną (CA*) [1, 2]. Stwierdzono, że obecność fragmentu fluorowanego w łańcuchu terminalnym cząsteczek powoduje zmniejszenie grubości warstwy smektycznej w fazie A i fazie smektycznej CA* i zwiększa pochylenie cząsteczek w fazie smektycznej CA*, szczególnie dla cząsteczek z krótkimi łańcuchami terminalnymi.
EN
Changes of smectic layer spacing, the intensity of the diffraction peaks and its half width upon temperature were measured for recently prepared esters having antiferroelectric smectic CA* phase [1, 2]. It was found, that the presence of a fluorinated fragment in the terminal chain of molecules involves shortening of the SmCA* smectic layer spacing and increasing the tilt in the layers of SmCA* phase especially for the compounds with short tails.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.