Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Sygnaturowy słownik diagnostyczny o niewielkich rozmiarach wykorzystywany w testowaniu połączeń

Garbolino T., Gucwa K., Hławiczka A.

Pomiary Automatyka Kontrola

|

2011

|

R. 57, nr 1

52-54

PL

Przedstawiono nowy sposób redukcji rozmiaru sygnaturowego słownika diagnostycznego (SSD) służącego do detekcji i diagnostyki uszkodzeń statycznych i opóźnieniowych w połączeniach. Testowana magistrala złożona z n linii jest dzielona na b k bitowych fragmentów. Każdy z ww. fragmentów magistrali jest testowany przy użyciu oddzielnego 2k bitowego rejestru pierścieniowego R-LFSR. Procedura testująca obejmuje cztery fazy, w których na przemian pracują parzyste oraz nieparzyste rejestry. Zaproponowane tutaj rozwiązanie pozwala znacznie zmniejszyć wielkość SSD.

EN

The paper is devoted to a new technique enabling the substantial reduction of the size of a diagnostic dictionary used for detection, localization and identification of static and delay faults in interconnections that are tested with use of ring linear feedback shift registers (R-LFSR). The proposed method assumes that the bus under test comprises n lines and is structured into b fragments of the size of k lines per each fragment. The method also assumes that each of the aforementioned fragments is tested by means of a separate R-LFSR with its length of 2k bits. The example of such a solution is presented in Fig. 1. Moreover, the test procedure is subdivided into four phases in which odd and even R-LFSRs work alternately. Operation modes for individual registers during subsequent phases and their seeds are summarized in Table 1. The proposed way of subdivision of the test procedure makes it possible to get rid of the mutual interference between two adjacent R LFSRs in case of occurring a short-circuit between the feedback lines of these neighbouring registers. Such interactions were the drawback of the previous methods and presented the impediment that prevented the fault dictionary from having its size reduced [2]. The solution that is suggested in this study enables substantially diminishing the dictionary, where its actual size is determined by the multiplicity of r defects within each k-bit part of the connecting bus, even when the bus width n >> k [3, 4].

2

Testing of interconnections with use of reduced-size signature-based diagnostic dictionary

Garbolino T., Gucwa K., Hławiczka A.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2010

|

Vol. 51, nr 11

15-18

EN

The paper presents a new method for size reduction of a signature-based diagnostic dictionary that is normally used for testing of static and delay faults in interconnections that are tested by means of an R-LFSR ring register. The newly developed method, similarly to the previous studies of the authors, assume that the n-bit bus under test is split into b fragments with their width of k bits each. Each fragment of the bus is tested with use of a separate 2k-bit R-LFSR. The test procedure consists of four phases during which odd and even registers operate alternately. Such an approach eliminates effect of mutual impact between states of neighbouring R-LFSRs in case of shorts between feedback lines of these registers. These possible interactions were a drawback of previous solutions as they limited the possibility to reduce size of the diagnostic dictionary. Owing to application of this new technique to full detection, localization and identification of all the considered faults that may occur on an n-bit bus, the new solution needs much smaller dictionary, where its size is determined by the multiplicity r of faults within each k-bit fragment, even if the bus width nťk.

PL

W artykule zaproponowano nową metodę redukcji rozmiaru syganturowego słownika diagnostycznego, który jest wykorzystywany do testowania uszkodzeń statycznych i opóźnieniowych w połączeniach testowanych przez rejestr pierścieniowy R-LFSR. Nowo opracowana metoda - podobnie jak w poprzednich pracach autorów - zakłada, że testowana magistrala n-bitowa zostaje podzielona na b jednakowych fragmentów o szerokości k bitów każdy. Każdy taki fragment magistrali jest testowany przez oddzielny rejestr R-LFSR złożony z 2k przerzutników D. Procedura testowa obejmuje cztery fazy, w czasie których rejestry parzyste i nieparzyste pracują naprzemiennie. Takie podejście eliminuje zjawisko wzajemnego wpływu na siebie sąsiednich rejestrów R-LFSR, które było wadą poprzednich rozwiązań ponieważ ograniczało możliwość zmniejszenia rozmiaru słownika diagnostycznego. Nowa technika umożliwia detekcję, lokalizację oraz identyfikację wszystkich zamodelowanych uszkodzeń, mogących wystąpić na n-bitowej magistrali, oraz wymaga słownika diagnostycznego o znacznie mniejszym rozmiarze. Rozmiar tego słownika jest określony wyłącznie przez krotność uszkodzeń rw każdym k-bitowym fragmencie magistrali, nawet gdy szerokość tej magistrali nťk.

3

On the use of Ring LFSR based BIST for detection, identification and localization of static and dynamic faults in interconnects

Hławiczka A., Gucwa K., Garbolino T.

Theoretical and Applied Informatics

|

2009

|

Vol. 21, No. 1

23-36

EN

In the paper a method of the fault detection, identification and localization by means of a ring Linear Feedback Shift Register (LFSR) is presented. The properties of a ring LFSR and the method to design a ring LFSR based Built-In-Self Test (BIST) is also given. Practical examinations of a ring LFSR application for localization faults in 8-,16-,24- and 32-bit buses are presented. Some important observations regarding the types of characteristic polynomials used in ring LFSRs are also included. Finally, the obtained results are summarised.

PL

W pracy zaprezentowano metodę detekcji, lokalizacji i identyfikacji uszkodzeń połączeń wykorzystującą pierścieniowy rejestr LFSR. Przedstawiono również właściwości pierścieniowych rejestrów LFSR oraz metodę projektowania struktury testera BIST wykorzystującego pierścieniowy rejestr. Przedstawiono także wyniki eksperymentów nad praktycznym wykorzystaniem pierścieniowego rejestru LFSR do detekcji uszkodzeń w 8-, 16-, 24- i 32- bitowych magistralach. W artykule zawarto również istotne obserwacje dotyczące rodzaju wielomianów charakterystycznych wykorzystywanych w pierścieniowych rejestrach LFSR. W zakończeniu podsumowano uzyskane rezultaty.