Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Analiza dynamiki imitatora dużych rezystancji o strukturze układu typu T

Guzik Janusz, Pilśniak Adam

Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej

|

2019

|

Nr 66

25--28

PL

W pracy przedstawiono opis uogólniony modelu matematycznego dynamiki pasywnego imitatora dużych rezystancji (o wartości rzędu TΩ) w układzie typu T bazującym na przekształceniu „gwiazda-trójkąt”. Przedstawiono problemy z zastosowania rezystorów wysokoomowych do budowy imitatora. Z punktu widzenia dynamiki te rezystory są układami inercyjnymi o stałych czasowych nawet rzędu ( 100 ÷ 1000) s. Wskazano warunki minimalizacji występujących stałych czasowych oraz podano optymalne warianty struktur imitatorów. Są one stosowane do sprawdzania wskazań mierników dużych rezystancji, bazujących na przetwarzaniu prądu.

EN

The paper presents a dynamics analysis of high resistance substituter that works as a dynamic element in T circuit. The high resistance substituter has one input and one output ( see Fig. 1b) and it`s principle of operation basing on “star-delta” connection. In introductory section 1 it is shown that the systematic error δSO of simplifying equation: RSO ≈ RiRo/Rd. (see Eqs. (2) - (3)) can be easily minimalized, e.g. δSO → 0. In the sections 2 - 4 the describing function of the substituter (e.g. resistance RSO (s) or impedance ZSO (s)) has certain properties that can be used in a correction procedure in two cases: (I) use to imitator's building two high impedance resistors Ri, Ro about approximate values Ri = Ro = R, Rd = R / k, RaiCai, = RaoCao = RaCa. (see Fig.2 + Eq.(8b)), (II) use to imitator's building only one high impedance resistor Ri or Ro (see Fig. 3a,b + Eqs. (10) – (11)). It in both these cases (I) and (II) the high resistance substituter`s realization errors δ as a function of numerator α and denominator β of resistance ROS(t) / impedance ZOS(s) (see Eqs. (12a) – (12b) and (13a) – (13b), respectively) is presented. This terror minimalize δ → 0 at simplifying relation: α = β (see Fig.4). Recapitulating, one optimum high resistance substituter`s structure according to Fig. 3a should to recommend. This solution with one high impedance resistor Ri extensions the range of imitated resistances ROS across supply of voltage rise on the imitator's “Source” input.

2

Problematyka wzorcowania aparatury elektrometrycznej

Kłos Z.

Prace Naukowe Instytutu Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych Politechniki Wrocławskiej. Monografie

|

2004

|

Vol. 55, nr 17

1--268

PL

Przedstawiono aktualny stan wiedzy na temat pomiarów elektrometrycznych i wzorcowania elektronicznej aparatury elektrometrycznej - pikoamperomierzy DC, mierników ładunku, mierników wielkich rezystancji oraz woltomierzy i wzmacniaczy elektrometrycznych. Dokonano przeglądu współcześnie produkowanej aparatury elektrometrycznej, osiąganych przez nią parametrów, tendencji rozwojowych i ograniczeń. Przedstawiono dorobek autora w zakresie konstrukcji pikoamperomierzy, megaomomierzy i wzmacniaczy elektrometrycznych, których parametry są porównywalne z parametrami osiąganymi przez przodujące firmy światowe, a także przykłady zastosowania przez autora techniki elektrometrycznej w konstrukcji aparatury do badań obiektów biologicznych, pomiaru sygnałów elektrofizjologicznych człowieka (mózgowych sygnałów wywołanych Eps) oraz do monitorowania skażeń środowiska naturalnego (ścieków). Przedstawiono aktualny stan zagrożenia oraz specyfikę pomiarów kontrolnych i wzorcowania aparatury o parametrach ekstremalnych na granicy mierzalności. Podkreślono trudności związane z uzyskaniem wzorców tych wielkości i konieczność stosowania niekiedy bardzo specyficznych metod wzorcowania. Omówiono uwarunkowania prawidłowego wykonania pomiarów kontrolnych. Zaproponowano oryginalne metody pośrednie opracowane przy współudziale autora do kontroli i wzorcowania aparatury możliwe do realizacji zarówno w warunkach laboratoryjnych jak i u użytkownika aparatury za pomocą stosunkowo prostych środków technicznych będących na wyposażeniu większości laboratoriów badawczych i placówek naukowych Podano kryteria doboru aparatury i wzorców. Przedstawiono bardzo szczegółową analizę niepewności proponowanych metod wzorcowania z użyciem nowoczesnej, aktualnie wprowadzanej do metrologii teorii niepewności i pomiarów bazującej na statystycznej teorii błędów. W proponowanych metodach kontroli i wzorcowania aparatury elektrometrycznej niezbędne są wysokoomowe wzorce rezystancji pracujące przy niskich napięciach pomiarowych, dlatego też badaniom wysokoomowych wzorców i rezystorów precyzyjnych poświęcono ostatnią część rozprawy. Badaniami objęto precyzyjne rezystory kompozytowe o największych wartościach rezystancji ze względu na możliwość użycia ich zamiast trudno dostępnych wzorców wysokoomowych. Przedstawiono też próbę aplikacji wyników badań do wykonania modeli kontrolnych nastawnych wzorców rezystancji - opornicy wysokoomowej, przenośnego zestawu wzorców kontrolnych oraz dekadowego wzorca imitowanego. Zestaw tych trzech wzorców wystarcza do wzorcowania praktycznie całej aktualnie istniejącej aparatury elektrometrycznej.

EN

In the monograph, the state of theart in the ares of electrometric measurement and the calibration of electrometric including Dc picoammeters, charge meters, high resistance meters and instrumentation amplifiers has been presented. The monograph consists of three parts. The first part covering Chapters 1 and 2 is an extensive introduction into the very specific and hardly appearing in the research literature research area of measurements of extreme signals. This area covers the measurement of extremely low DC current and charge, extremely high resistance and voltage coming from the signal sources with extremely low power (extremely high internal resistance). The most frequently used methods of the measurement of these electric quantities have been thoroughly studied. The special attention has been paid to the factors limiting achieved ranges, measurement accuracy as well as available existing electrometric components. The presented review of modern electrometric equipment with its metrological parameters, development directions and limits is a background of authors achievements in the area of construction of electrometric equipment including picoammeters, megaohnmmeters and instrumentation amplifiers. It has been pointed out that parameters of these devices are comparable to those developed by the world leading manufacturers. Also, the examples of application of electrometric techniques in the construction of the measuring equipment developed by the author have been shown. The broad range of applications of such an equipment includes the measurement of biological objects, human electrophysiological signals and savage monitoring. The second part of the monograph, chapters 3-6 covers the methodology of calibrations of the equipment used in measurement of extreme electrometric signals. The difficulties with obtaining the standards of electrometric quantities imply very often the necessity of use of very special and sophisticated methods of calibration as well as precise procedures of conducting such measurements. The original indirect methods have been proposed to calibration of picoammeters and megaohmmeters which is possible to perform with the use of relatively simple technical means available in the majority of research labs. In addition, the criteria of choosing the proper equipment and the standards have been given and also the very thorough analysis of uncertainty of the proposed methods of calibration has been performed due to the modern theory of uncertainty of measurement based on statistical analysis of a series of observations being introduced to metrology in 1993. The third part of the monograph is devoted to the investigation of the properties of high value resistors and high value resistance standards. In the proposed methods of the electrometric equipment calibration there are high resistance standards required working at low measuring voltage. Unfortunately, the existing high resistance standards are very expensive and very often cannot work properly within the required low voltage range. Therefore, in this part there have been investigated the properties of two groups of the highest value resistors: precise metal oxide resistors and precise composite resistors with regard to the possibility of using them as the standards of lower accuracy. The results of the investigations allowed using high value resistors in the construction of the models of high resistance standards ‒ high resistance decade standard, portable set of control standards and high resistance decade substituter. This set of three proposed models of high resistance standards is sufficient to the calibration of practically all types of modern electrometric equipment.

3

Rezystory wysokoomowe w sprzężeniu zwrotnym mierników wysokich rezystancji

Lisowski M.

Zeszyty Naukowe Politechniki Rzeszowskiej. Elektrotechnika

|

2003

|

z. 25 [207]

183-192

PL

Mierniki wysokich rezystancji najczęściej składają się z kalibrowanego źródła napięcia, przetwornika prąd-napięcie i woltomierza analogowego lub cyfrowego przyłączonego do wyjścia tego przetwornika. Newralgiczną częścią jest przetwornik prąd-napięcie. Jego właściwości zależą od zastosowanego wzmacniacza i rezystora wysokoomowego w sprzężeniu zwrotnym. W niniejszej publikacji zwrócono szczególną uwagę na właściwości metrologiczne rezystorów wysokoomowych. Przedstawiono wyniki badań zachowania się tych rezystorów w funkcji czasu, temperatury, napięcia i wilgotności.

EN

High-resistance meters are made up of a calibrated voltage source, a current-to-voltage converter (I-U) and analog or digital voltmeter attached to the output of I-U converter. I-U converter is the crucial part of the device. Its operating characteristics depend on the amplifier and high-resistance resistor used in its feedback circuit. This paper pays a special attention to the metrological properties of high-resistance resistors and humidity characteristics are included.