Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
1 Prace Naukowe Instytutu Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych Politechniki Wrocławskiej. Studia i Materiały
1 Scientific Papers of The Institute of Electrical Machines, Drives and Measurements of the Wrocław University of Science and Technology Series: Studies and Research

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: rezystor warstwowy

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Metoda obliczania parametrów dekompozycyjnych rezystorów warstwowych

Abdenov A. Z., Sawicki A., Razinkin V. P., Rubanovich M. G., Khrustalev V. A.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2006

Vol. 47, nr 6

28-31

Przedstawiono zależności wiążące parametry konstrukcyjne i elektryczne rezystora warstwowego, a zwłaszcza jego indukcyjności - własnej i wzajemnej. Udowodniono możliwość takiego przejścia granicznego, który sprowadza otrzymaną zależność do równania całkowego Volterry pierwszego rodzaju typu splotu.

In work the ratio connecting design data of the film resistor with decomposed inductive parameters and own inductance of the film resistor is received. The opportunity of limiting transition which reduces the received ratio to integrated equation Volterra of the first sort such as convolution is proved.

Stałość czasowa wzorców rezystancji zrealizowanych z precyzyjnych rezystorów warstwowych

Bartoszewski J., Kolasa J.

Prace Naukowe Instytutu Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych Politechniki Wrocławskiej. Studia i Materiały

2004

Vol. 56, nr 24

493-496

Stałość czasowa jest ważnym czynnikiem oceny jakości wzorców. Wzorce rezystancji najwyższej jakości są wykonywane z drutów, taśm lub prętów, najczęściej manganinowych. Właściwości takich wzorców są dobrze poznane. Wzorce rezystancji gorszej jakości mogą być wykonywane z produkowanych na masową skalę precyzyjnych rezystorów warstwowych. Stałość wartości tych rezystorów zależy zarówno od materiału i technologii wykonania warstwy rezystancyjnej jak i od warunków przechowywania rezystorów, parametrów procesu sztucznego starzenia i stosowanych obciążeń prądowych w czasie eksploatacji. Ze względu na znaczną różnorodność typów i technologii wykonań stałość rezystancji rezystorów warstwowych nie jest do końca poznana. W artykule przedstawiono wyniki badań doświadczalnych zmian czasowych rezystancji modeli wzorców zrealizowanych z rezystorów warstwowych metalizowanych. Podano wnioski dotyczące przydatności tych rezystorów do budowy aparatury pomiarowej - wzorców rezystancji, dzielników napięć, itp.

Time stability is the important factor of quality assessment of standards produced from manganin wires, tapes and rods. Properties of these standards are known well. Resistance standards that are worse quality can be made of thin-layer precision resistors produced on large scale. The stability factor of these resistors are depend on materials, technology of making resistor thin layer, condition of storage, parameters of artificial ageing, and applied current in time of exploitation. With regard of considerable variety of types and technology of manufacturing the stability of resistance of thin-layer resistors are not known.