Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

System przekazywania jednostki rezystancji od wzorca pierwotnego QHR do wzorców 100 TΩ oparty na transferach Hamona

Lisowski M., Krawczyk K., Dudek E., Mosiądz M.

Pomiary Automatyka Kontrola

|

2010

|

R. 56, nr 11

1290-1293

PL

Przedstawiono ideę systemu przekazywania jednostki rezystancji od wzorca pierwotnego QHR (Quantum Hall Resistance) do wzorców o dużych wartościach rezystancji, aż do 100 TΩ. W zakresie do 100 kΩ system ten bazuje na komparatorze kriogenicznym, a od 100 kΩ na transferach Hamona. Transfery te umożliwiają bardzo dokładne porównanie wartości rezystancji wzorców w stosunku 1:10 i 1:100. Opisano specjalnie wykonane dla tego systemu prototypowe transfery Hamona i ich zastosowanie w systemie.

EN

An idea of a system for resistance unit transfer from QHR (Quantum Hall Resistance) to high value resistance standards up to 100 TΩ is presented in the paper. Below 100 kΩ this system is based on a cryogenic current comparator, and above 100 kΩ on Hamon transfers. Hamon transfers allow very accurate comparison of standards resistance values in ratios 1:10 and 1:100. Prototypes of Hamon transfers specially made for this system are described. The factors influencing accuracy of the Hamon transfers are presented. The most important of them are: insulation leakage, temperature variation of resistor surroundings, voltage variation, humidity of surrounding air, charge building in the insulation and highest value resistors. The methods for minimisation of influence of those factors are described. The construction solutions to minimise the leakage current and temperature variation are discussed in details. To minimise the leakage current, double insulation and shield potential rising have been used, while to minimise the temperature variation, internal termostatisation with Peltier elements placed on the boxes of Hamon transfers has been used.

2

Problemy badawcze i interpretacyjne napięciowego współczynnika rezystorów o dużych rezystancjach

Madej P.

Prace Naukowe Instytutu Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych Politechniki Wrocławskiej. Studia i Materiały

|

2009

|

Vol. 63, nr 29

509-524

PL

Zależność rezystancji od napięcia, czyli nieliniowość rezystora jest w elektrometrii jednym z poważniejszych problemów. Można wyróżnić dwa zakresy napięcia, związane z podstawowymi zastosowaniami rezystorów o dużych rezystancjach: duże napięcia w źródłach napięć testowych, komorach jonizacyjnych, aparaturze rentgenowskiej i wreszcie w wysokonapięciowych testerach izolacji, gdzie wartości są rzędu od dziesiątków V nawet do setek kV, oraz druga grupa o małych napięciach nawet od ułamków mV do około 10 V, gdy rezystory pełnią funkcję elementów wzorcowych w aparaturze elektrometrycznej. Ten sam rezystor, doskonały w jednym zakresie, może być kiepski w drugim. Metody i aparatura do badanie rezystorów w pierwszym zakresie napięciowym są znane i stosowane bez żadnych, pozornie problemów. Wypunktowano nie do końca jednoznacznie zdefiniowane sposoby obliczenia i zasady wykorzystania wielkości opisujących właściwości rezystora. W drugim zakresie napięcia pojawiają się przy badaniach rezystorów poważne problemy, szczególnie przy małych napięciach < 1 V. Wynikają one z dużego wpływu szumu rezystora oraz granicy rozdzielczości stosowanej aparatury. Zaproponowano nietypowe rozwiązania, wspierające a nawet wypierające klasyczne metody i aparaturę.

EN

Voltage depedence of the resistance, otherwise nonlinearity of resistor is one of the serious problems in electrometry. There are two ranges of voltage related to basic applications of high value resistors: higher voltages in test voltage sources, ionization chambers, X-ray devices and insulation testers at very high voltages, where values are from several tens of volts even to hundreds kilovolts, and second group with low voltages (even from fraction of milivolt to near ten volt), where resistors are reference elements in electrometric devices. The same resistor, perfect in the first range, may be poor in the second. Methods and apparatus for resistors testing in the first voltage range are known and applied apparently without any problems. There are pointed not to the end clear methods of calculation and rules of using parameters describing the properties of the resistor. Serious problems occured with testing resistors at the second voltage range, especially at the lowest voltages < 1 V. These effects result from the influence of resistor noise and resolution limits of the applied apparatus. Untypical solutions are proposed to support or even to eliminate classical methods and apparatus.

3

Model matematyczny wzorca dużych rezystancjiwykonanego w technice SC

Tyman Z., Guzik J.

Pomiary Automatyka Kontrola

|

2008

|

R. 54, nr 9

646-649

PL

W pracy zaprezentowano model matematyczny 6-cio elementowego wzorca dużych rezystancji (zrealizowanego w technice przełączalnych pojemności SC) przeznaczonego do sprawdzania wskazań wybranych mierników do pomiarów dużych rezystancji, np. megaomomierzy. Zaletą prezentowanej idei budowy wzorca dużych rezystancji jest możliwość zmiany nastawy odtwarzanej wartości rezystancji za pomocą parametrów (częstotliwości, współczynnika wypełnienia) sygnału sterującego procesem przełączania kondensatora.

EN

The paper presents the mathematical model of 6 - element high resistance standard (performed in Switched Capacitor technology) used for indications checking of chosen meters intended for high resistance measurements, eg. megaohmmeters. The advantage of presented high resistance standard construction idea is the possibility of realized resistance value changes by means of signal parameters (frequency, pulse width coefficient) controlling the switching process of a capacitor.

4

Wpływ rezystancji upływu na dokładność transferu z dużymi rezystancjami

Madej P.

Prace Naukowe Instytutu Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych Politechniki Wrocławskiej. Studia i Materiały

|

2007

|

Vol. 60, nr 27

374-387

PL

Transfery rezystancyjne są rodzajem wzorca grupowego i przeznaczone do przeniesienie wartości wzorcowej między przyrządami, laboratoriami. W szczególnym przypadku służą do zrealizowania tym samym zestawem rezystorów szeregu wartości wzorcowych o dużym stosunku, np. do 100:1. Przy próbach wykorzystania ich w zakresie dużych rezystancji, w elektrometrii należy liczyć się z pogorszeniem dokładności wzorca, spowodowanym wpływem rezystancji upływu. W opracowaniu przedstawiono rozwiązanie transferu z ochronną siecią rezystorów, stosowane w laboratoriach o najwyższej dokładności. Analizowano wpływ klasy rezystorów w takiej sieci i rezystancji upływu na dokładność wzorca. Podano także wyniki analizy wpływu rezystancji upływu na dokładność transferu w klasycznym układzie Hamona oraz w układzie o rozdzielonych rezystorach. To ostatnie rozwiązanie wzorca autor proponuje do stosowania w elektrometrii, w porównaniach o średnim poziomie dokładności.

EN

Resistance transfer is kind of group standard and intended to transfer standard value between instruments, laboratories. Applications of high resistances transfer in electrometry makes difficults because of leakage resistance. There are presented guarded transfer, used in high accuracy laboratories and transfer with separated resistors. Author discussed errors caused by leakage resistance in transfers.