Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Przegląd Elektrotechniczny

1 2016

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!
Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: resistance of thin layers

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Analysis of thermographic images of thin metal layers using grouping algorithms

Korzeniewska E., Duraj A., Krawczyk A., Murawski P.

Przegląd Elektrotechniczny

2016

R. 92, nr 12

73--76

In this paper the authors attempt to perform the analysis of the thermographic images of thin metal layers obtained in PVD (physical vapor deposition) process as the part of the working textronic system. The authors also briefly characterize algorithms applied in data classification: algorithm k medium, COBWEB algorithm and the grouping algorithm. The identification of defects of thin film structures using image recognition algorithms are presented.

W artykule autorzy dokonują analizy obrazów termograficznych cienkich warstw metalicznych wykonanych w procesie PVD (physical vapor deposition) jako części roboczej systemu tekstronicznego. Scharakteryzowano również krótko algorytmy zastosowane przy klasyfikacji danych: algorytm k średnich, algorytm COBWEB oraz algorytm grupujący. Wykorzystując zaprezentowane algorytmy rozpoznawania obrazów dokonano identyfikacji defektów struktur cienkowarstwowych.