PL
 |
EN
Ograniczanie wyników
Czasopisma help
  1. 1 Elektrotechnika i Elektronika
Autorzy help
  1. 1 Nagórny Z.
Lata help
  1. 1 2003
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  rekonstrukcja binarna
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Optyczne testowanie topografii układów elektronicznych z wykorzystaniem morfologii matematycznej
Nagórny Z.
Elektrotechnika i Elektronika
|
2003
|
T. 22, z. 1
9--16
PL
W pracy przedstawiono optyczną metodę testowania topografii układów elektronicznych. Metoda ta wykorzystuje morfologię matematyczną. Zaproponowano algorytm testowania połączeń, który sprawdza wymaganą minimalną szerokość ścieżek. Przedstawiono przykłady i wnioski płynące z zastosowania tej metody.
EN
The paper presents a visual method of testing the topography of electronic circuits. The method makes use of mathematical morphology techniques. The algorithm for the testing connection, which inspects minimum conductor traces width requirement is proposed. Some examples and conclusions coming from using this method are presented.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.