Ograniczanie wyników
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  rejestry sygnatur
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
Artykuł przedstawia zmodyfikowane podejście do transparentnego testowania pamięci opartego o testy krokowe. Podejście to umożliwia znaczne skrócenie czasu niezbędnego do wyliczenie sygnatury odniesienia. W proponowanej metodzie sprowadza się to do wykonania fazy odczytu o złożoności 1N. Dodatkowo metoda ta pozwala na łatwe określenie wartości sygnatury odniesienia charakterystycznej dla każdej fazy testu. Dzięki temu możliwa jest ocena poprawności działania pamięci nie tylko po zakończeniu całego procesu testowania (jak ma to miejsce w podejściu klasycznym), ale również po zakończeniu każdej jego fazy. Zmniejsza to w efekcie współczynnik maskowania uszkodzeń i prowadzi do zwiększenia ich pokrycia.
EN
In this paper the new concept of transparent RAM testing based on march tests has been proposed. This approach allows substantially reduce the time needed to calculate the faultfree signature. In the proposed concept complexity of this process is reduced to 1N. In addition, this method allows you to easily determine the value of the reference signatures of each phase of the transparent march test. It allows to compare the fault-free signature with real signature at the end of all march test phases. This reduces the effect of fault masking and leads to an increase of fault coverage.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.