Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: rejestr pierścieniowy

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Testing of interconnections with use of reduced-size signature-based diagnostic dictionary

Garbolino T., Gucwa K., Hławiczka A.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2010

Vol. 51, nr 11

15-18

The paper presents a new method for size reduction of a signature-based diagnostic dictionary that is normally used for testing of static and delay faults in interconnections that are tested by means of an R-LFSR ring register. The newly developed method, similarly to the previous studies of the authors, assume that the n-bit bus under test is split into b fragments with their width of k bits each. Each fragment of the bus is tested with use of a separate 2k-bit R-LFSR. The test procedure consists of four phases during which odd and even registers operate alternately. Such an approach eliminates effect of mutual impact between states of neighbouring R-LFSRs in case of shorts between feedback lines of these registers. These possible interactions were a drawback of previous solutions as they limited the possibility to reduce size of the diagnostic dictionary. Owing to application of this new technique to full detection, localization and identification of all the considered faults that may occur on an n-bit bus, the new solution needs much smaller dictionary, where its size is determined by the multiplicity r of faults within each k-bit fragment, even if the bus width nťk.

W artykule zaproponowano nową metodę redukcji rozmiaru syganturowego słownika diagnostycznego, który jest wykorzystywany do testowania uszkodzeń statycznych i opóźnieniowych w połączeniach testowanych przez rejestr pierścieniowy R-LFSR. Nowo opracowana metoda - podobnie jak w poprzednich pracach autorów - zakłada, że testowana magistrala n-bitowa zostaje podzielona na b jednakowych fragmentów o szerokości k bitów każdy. Każdy taki fragment magistrali jest testowany przez oddzielny rejestr R-LFSR złożony z 2k przerzutników D. Procedura testowa obejmuje cztery fazy, w czasie których rejestry parzyste i nieparzyste pracują naprzemiennie. Takie podejście eliminuje zjawisko wzajemnego wpływu na siebie sąsiednich rejestrów R-LFSR, które było wadą poprzednich rozwiązań ponieważ ograniczało możliwość zmniejszenia rozmiaru słownika diagnostycznego. Nowa technika umożliwia detekcję, lokalizację oraz identyfikację wszystkich zamodelowanych uszkodzeń, mogących wystąpić na n-bitowej magistrali, oraz wymaga słownika diagnostycznego o znacznie mniejszym rozmiarze. Rozmiar tego słownika jest określony wyłącznie przez krotność uszkodzeń rw każdym k-bitowym fragmencie magistrali, nawet gdy szerokość tej magistrali nťk.

Testowanie dynamicznych uszkodzeń typu przesłuchy w sieciach połączeń przy użyciu rejestrów pierścieniowych R-LFSR

Hławiczka A., Gucwa K., Garbolino T.

Pomiary Automatyka Kontrola

2009

R. 55, nr 8

572-574

W pracy przedstawiono nową metodę wykrywania przesłuchów w połączeniach. Testowaniu poddaje się tylko te połączenia FPGA, które będą wykorzystywane przez docelową aplikację. Zaproponowana struktura testera wbudowanego (BIST) wykorzystuje rejestr pierścieniowy 3n R LFSR, który w swojej części odpowiedzialnej za generowanie par testowych ma podwojoną liczbę przerzutników. Do testowanej sieci n połączeń jest podłączony tylko co drugi przerzutnik. Taka struktura generuje wszystkie pary niezbędne do pobudzenia przesłuchów co jest niemożliwe w klasycznej strukturze R-LFSR. Eksperymenty potwierdziły skuteczność testera BIST w pobudzaniu określonych przesłuchów.

A new method of detection of crosstalk faults is presented in the paper. An interconnect network employed by a target application is a sole subject of the test. The detection of crosstalk fault requires stimulation of the interconnect network under test (INUT) with two consecutive test patterns. The test patterns have to be applied to inputs of the INUT at a nominal clock frequency. So using the Built In Self Test (BIST) is a must. The proposed BIST structure is based on a ring register called 3n R LFSR (Fig.1). In contrast to a typical ring register, the 3n R LFSR contains a double number 2n of flip flops in its part that is responsible for two test pattern generation. The n lines of the INUT are fed from the outputs of every second flip flop of that part of the register. Such structure of the BIST is capable of generating all two test patterns that are required to stimulate crosstalk faults in the INUT, which is impossible in the case of a classical R LFSR. At the beginning of a test session the 3n-R-LFSR is seeded with a chosen value. After g clock cycles the final state (signature) is read. In more complex cases crosstalk can be observed only if a number k of lines being aggressors change their state simultaneously. The experiments proved that for k << n it is possible to find the initial seed being the beginning of a test sequence, that stimulate all required crosstalks. The length of the test sequence and simulation time ? necessary for finding initial seed is acceptable (Tab. 3).