Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2011

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: rejestr XR-LFSR

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Analysis of operation of ring LFSR used for testing of unidirectional interleaved interconnections

Gucwa K., Garbolino T., Hławiczka A.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2011

Vol. 52, nr 12

50-53

The paper presents analysis of operation of a specific ring LFSR register that can be used to test a network of n interleaved interconnections between modules of digital circuits. This register is a distinctive option of the already known BIST structure referred to as CSTP. When the test is carried out for unidirectional interconnections, the CSTP becomes a linear register and the lines under test make up feedback lines of that register. The same authors in previous studies dedicated to bus-type connections observed that the sequence of m states of the state diagram of the ring LFSR, where m>2n and n>16, is sufficient to detect a substantial number of static and delay faults for such buses. The present paper comprises the observation that any randomly selected state of the state diagram for the LFSR belongs, with a pretty high level of probability, exceeding 70%, to the cycle with the maximum length Cmax. It was also spotted that for n>16 more than 98,4% of all structures lead tcTsufficiently long cycles Cmax > 1000. The both observations confirmed usefulness of the new LFSRs for testing of unidirectional connections.

W artykule przedstawiono analizę pracy specyficznego rejestru pierścieniowego R-LFSR, który może być użyty do testowania sieci n krzyżujących się połączeń pomiędzy blokami układu cyfrowego. Ze względu na charakter tych połączeń podobnych do litery X rejestr ten nazwano rejestrem XR-LFSR. Do sprawdzania jego skuteczności w identyfikacji i lokalizacji uszkodzeń użyto metody identyfikacji grafu. Założono, że sprawny rejestr XR-LFSR może być reprezentowany przez automat w postaci cyklicznego grafu G₀ a każde fizyczne uszkodzenie f przekształca G₀ w jakiś inny graf Gf≠G₀. We wcześniejszych pracach autorów, dotyczących magistralowych połączeń, udowodniono, że sekwencja stanów o długości m>2n dla n>16 wystarcza do wykrycia znaczącej liczby uszkodzeń statycznych i opóźnieniowych na takich magistralach. W niniejszej pracy zaobserwowano, że losowo wybrany stan w grafie pracy rejestru XR-LFSR z dużym prawdopodobieństwem - większym od 70% - należy do cyklu o największej długości Cmax >120 dla małych n, natomiast z prawdopodobieństwem około (1-2¹¹⁻ⁿ)100% czyli prawie 100% należy do cyklu długości Cmax >1000 dla dużych n>30. Ta ostatnia obserwacja potwierdza przydatność rejestrów XR-LFSR do testowania sieci jednokierunkowych skrzyżowanych i skośnych połączeń.