W artykule przedstawiono deterministyczną metodę diagnostyki funkcjonalnej analogowych układów elektronicznych. Prezentowana metoda bazuje na wykorzystaniu aproksymacji specyfikacji obwodu w przestrzeni zdefiniowanej wybranymi cechami odpowiedzi czasowej układu testowanego. W celu oszacowania specyfikacji układu analogowego skorzystano z regresji kwadratowej funkcji dwóch zmiennych. Na podstawie wyznaczonych wartości specyfikacji, podejmowana jest decyzja o jego stanie diagnostycznym. Proponowana metoda diagnostyczna zostala zweryfikowana z wykorzystaniem obwodu przykładowego - filtru dolnoprzepustowego.
EN
There is an analogue electronic circuits deterministic specification driven diagnosis method presented in this paper. This method bases on an approximation of circuit under test (CUT) specifications' in the space defined by the set of a GUT time domain responses features In order to estimate CUT specifications a biquadratic regression has been applied. These values are then used to make a decision whether the CUT is faulty or non-faulty. The proposed diagnosis method has been verified with the use of an exemplary circuit - a low-pass filter.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.