Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: registration data

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Propozycja zestawu danych ewidencyjnych jako składnika SDI na poziomie lokalnym

Zwirowicz K.

Przegląd Geodezyjny

2009

R. 81, nr 4

3-6

Podejmowane próby tworzenia lokalnych internetowych serwisów udostępniających dane przestrzenne stanowią istotny wkład w rozwój społeczeństwa informacyjnego. Jednak, jak dotąd, brakuje nie tylko długofalowych oraz konsekwentnie realizowanych programów budowy krajowej infrastruktury danych przestrzennych, ale także określonych, choćby minimalnych, wymagań w zakresie tworzenia SDI na poziomie lokalnym. W tej sytuacji istnieje potrzeba sformułowania zestawu danych ewidencyjnych charakteryzujących się konkretnymi walorami, będących elementem tej infrastruktury. Niedoskonała i restrykcyjna ustawa Prawo geodezyjne i kartograficzne utrudnia działania nie tylko w zakresie tworzenia SDI, ale i udostępniania danych ewidencyjnych.

Making attempts to create local services, which could allow accessing spatial data, are fundamental to building information society. Up till now there has been lack of long-term programs of building NSDI, and also minimum demands for local SDI. That is why there is need to define the set of cadastral data, which are characteristics of that infrastructure. Not up-to-data and restrict law of geodesy and cartography stops taking actions not only to build SDI, but also to access cadastral data.

Wielkość błędu pól powierzchni jako czynnik limitujący dokładność pomiarów katastralnych

Wrona T.

Archiwum Fotogrametrii, Kartografii i Teledetekcji

2001

Vol. 11

1-37--1-40

This article refer to the factors which have the main influence for the cadastral measuring accuracy. Surface designing different areas was a basic criterion of evaluation. It showed that for areas surface calculation of not beneficial configuration - measuring accuracy its borders is more higher then measuring accuracy requirements for large-scale elaborating.