This paper presents method of designing periodic test excitation for fault diagnosis of analogue electronic circuits. There has been proposed maximisation of circuit components tolerances while keeping assumed level of fault diagnosis. There has also been shown that combination of fault detection and location in a single step can remarkably shorten testing time. The optimisation process involves genetic algorithm.
PL
W pracy przedstawiono projektowanie periodycznego pobudzenia testowego dla diagnostyki uszkodzeń analogowych układów elektronicznych. Zaproponowano sposób maksymalizacji tolerancji elementów obwodu przy zachowaniu założonego poziomu diagnostyki uszkodzeń. Wykazano również, że połączenie etapów detekcji i lokalizacji uszkodzeń może znacząco skrócić czas testowania.
This paper presents analysis of components tolerance influence on fault diagnosis efficiency of analog electronic circuits. There has been proposed method of finding optimal frequency of input periodic excitation with simultaneous maximization of components tolerances in order to keep assumed level of diagnosis efficiency. There has been also proposed departure from classical "location after detection" schema. Combination of detection and location in a single step can remarkably shorten diagnosis time. The optimization process involves genetic algorithm.
PL
W pracy przeanalizowano wpływ tolerancji projektowych elementów na skuteczność diagnostyki analogowych układów elektronicznych. Zaproponowano metodę doboru częstotliwości okresowego pobudzenia testowego z jednoczesną maksymalizacją tolerancji elementów przy zachowaniu założonej skuteczności diagnostyki. Zaproponowano także odejście od klasycznego dwuetapowego schematu: ''lokalizacja po detekcji", co pozwoliło na skrócenie całkowitego czasu testowania. W procesie optymalizacyjnym wykorzystano algorytm genetyczny.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.