PL
 |
EN
Ograniczanie wyników
Czasopisma help
  1. 1 PAK
  2. 1 Pomiary Automatyka Kontrola
Autorzy help
  1. 1 Krahel A.
Lata help
  1. 1 2006
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  reduction of non-simultaneous sampling errors
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Redukcja błędów niejednoczesności próbkowania przy pomiarach mocy
Krahel A.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2006
|
R. 52, nr 9 bis
46--47
PL
Mikroprocesorowy przetwornik pomiarowy mocy wyposażony w jeden wielokanałowy przetwornik A/C nie może próbkować jednocześnie przebiegów prądu i napięcia. Próbkowanie niejednoczesne jest przyczyną błędów pomiaru. W artykule scharakteryzowano te błędy oraz przedstawiono prosty sposób ich redukcji.
EN
Use microcontrollers to build electrical measuring converters is very economical. But most popular microcontrollers have one embedded analog to digital converter with input's multiplexer. They are unable to sample two input analog signal (voltage and current) at the same time. The non-simultaneous sampling of current and voltage signals results in measurement errors. The characteristic of these errors and simple method for reduction of errors are presented in the paper.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.