Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: quantum circuit

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Wyznaczanie postaci macierzowej operatora opisującego działanie złożonego układu kwantowego

Wiśniewska J.

Biuletyn Instytutu Systemów Informatycznych

2010

nr 6

45-52

Artykuł zawiera opis metody pozwalającej na wyznaczenie postaci macierzowej operatora reprezentującego działanie układu kwantowego, zbudowanego z bramek kwantowych o znanych reprezentacjach macierzowych. Wspomniana metoda określa, jakie operacje matematyczne trzeba wykonać na macierzach opisujących bramki, w zależności od sposobu ułożenia tychże bramek w układzie kwantowym, aby otrzymać macierz reprezentującą operator kwantowy, symbolizujący dany układ.

The article contains a method's description, which allows to calculate matrix form of quantum operator representing quantum circuit, made of quantum gates (in case, when matrix representations of these gates are known). Mentioned method shows, what kind of mathematic operations we need to perform on matrices describing gates, included in circuit in various configurations, to gain matrix form of quantum operator, which represents given quantum circuit.

Two phase reliability analysis of quantum circuits in a block based approach

Boncalo O., Amaricai A.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2009

Vol. 50, nr 12

90-93

Simulating quantum circuits is a task that becomes prohibitive as their size grows. Therefore, reliability analysis using simulation is not feasible for complex quantum circuits. In this paper, we propose a two phase reliability analysis which combines VHDL based simulated fault injection (SFI) and analytical reliability techniques. SFI is applied in the first phase for sub-circuits (blocks), while the overall reliability estimate is obtained using analytical computations. Furthermore, we investigate the errors introduced by the analytical estimate of the overall reliability.

Symulowanie obwodów kwantowych o dużych rozmiarach jest niezwykle trudne. Dlatego też niemożliwe jest przeprowadzenie analizy niezawodnościowej złożonych układów kwantowych. W artykule proponujemy przeprowadzać analizy tego typu poprzez połączenie symulowanego wstrzykiwania błędów w VHDL z metodami analitycznymi analizy niezawodnościowej. W pierwszym etapie dokonuje się symulowanego wstrzykiwania błędów dla podobwodów tworzących bloki, a ogólne oszacowanie niezawodności dokonywane jest poprzez obliczenia analityczne. Następnie szacowane są błędy wprowadzone poprzez szacowanie analityczne do całkowitego oszacowania niezawodności.