Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  przezroczyste tlenki przewodzące
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
W pracy przedstawiono wyniki obliczeń dotyczących struktury elektronowej i równowagowych koncentracji punktowych defektów rodzimych (luki, atomy międzywęzłowe, defekty antystrukturalne) w ZnRh2O4. Obliczenia wykonane w przybliżeniu lokalnej gęstości uwzględniły poprawki +U typu Hubbarda, co prowadzi do dobrej wartości przerwy wzbronionej. Dominującymi defektami są luka cynkowa i jon Zn podstawiający Rh. Oba defekty są płytkimi akceptorami o energii tworzenia poniżej 1 eV, co może tłumaczyć obserwowane doświadczalnie w ZnRh2O4 przewodnictwo typu p.
EN
Energy levels and formation energies of native point defects, i.e., vacancies, interstitials, and cation antisites, in ZnRh2O4 were analyzed within DFT-GGA calculations with +U on-site correction imposed on both 4d(Rh) and 2p(O) states. There are two dominant defects, the VZn vacancy and the ZnRh antisite, which are characterized by low formation energies, in the O-rich and Zn-rich conditions, respectively. Both defects are shallow acceptors, and they can be responsible for the observed p-type conductivity of ZnRh2O4.
PL
W pracy opisano wyniki wstępnych badań nad optymalizacją technologu reotaksjalnego RGTO osadzania nanowarstw wybranych przezroczystych tlenków przewodzących (SnO₂ , In₂O₃) w nanoskali, na podstawie badań z wykorzystaniem wybranych powierzchniowych metod analitycznych (SEM, AFM, XPS), w aspekcie ich zastosowań m.in w sensoryce gazów toksycznych.
EN
In this paper the primary results of studies on Optimization of rheotaxial technology for the deposition of nanolayers of the selected transparent conductive oxides (SnO₂, In₂O₃) in nanoscale based on the study with the selected surface analytical methods (SEM, AFM, XPS), have been presented in aspects for application in gas sensors of toxic gases.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.