PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 9

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  przetworniki A/C
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available Realizacja samo-testowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A
Czaja Z.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2013
|
R. 59, nr 4
368--371
PL
Przedstawiono mikrosystem pomiarowy zbudowany z zasobów sprzętowych mikrokontrolera ATXmega32A4 pełniący funkcję układu testera wbudowanego przeznaczonego do samotestowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych. Samotestowanie opiera się na metodzie diagnostycznej, w której układ badany pobudzany jest impulsem prostokątnym, a jego odpowiedź czasowa próbkowana przez przetwornik A/C mikrokontrolera. Licznik mikrokontrolera ustala czas trwania impulsu oraz momenty próbkowania.
EN
A measurement microsystem based on hardware resources of the ATXmega32A4 microcontroller working as a BIST (Built-in Self Tester) used for self-testing of analog parts of embedded electronic systems is presented in the paper. Self-testing is based on the fault method [5], in which a tested analog part is stimulated by a single square pulse and its time response is sampled K times (K = 3) by the ADC (Analog to Digital Converter) (Fig. 1). A microcontroller timer determines the duration time of the square pulse and sets the sample moments of the ADC. The self-testing approach consists of: the pre-testing stage of fault dictionary creation (the fault dictionary has the form of a family of identification curves (Fig. 2)), the measurement procedure and the fault classification procedure. The proposed BIST consists of one timer working in the Compare Mode, an event system and a 12-bit ADC of the microcontroller (Fig. 3). The events generated by channels CHA, CHB and CHC compare matches of the timer are routed via the event system to the ADC (Fig. 7). They trigger measurements on three ADC channels CH0, CH1 and CH2 adequately (Fig. 4). The channel CHD compare match event is used to set up the duration time of the stimulant pulse. The BIST works according to the measurement procedure whose timing is shown in Fig. 5 and the algorithm in Fig. 6. The main advantages of the presented solution are better BIST parameters and the simpler measurement algorithm in comparison to the previous solutions [5-7].
2
Content available Wybrane zagadnienia z cyfrowego przetwarzania sygnałów - prezentacja witryny internetowej
Noga K.
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
|
2012
|
Nr 31
105-108
PL
W artykule przedstawiono opis strony internetowej, która prezentuje wybrane zagadnienia z zakresu cyfrowe-go przetwarzania sygnałów. Strona ta stanowi pomoc dydaktyczną, która powstała w KAO Akademii Morskiej w Gdyni.
EN
This paper presents the description of the webpage which describes selected problems from the Digital Signal Processing field. This webpage is a didactic tool for Gdynia Maritime University students.
3
Implementacja wzmacniacza fazoczułego na specjalistycznej karcie przetworników analogowo-cyfrowych NI PCI-4461
Chrobak Ł.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2012
|
Vol. 53, nr 12
106-109
PL
W artykule przedstawiono podstawy teoretyczne oraz implementację dwufazowego wzmacniacza fazoczułego typu Lock-ln na karcie przetworników analogowo-cyfrowych. Wykorzystaną kartą do implementacji tej funkcjonalności była szybka karta przetworników National InstrumentsŽ PCI-4461. W artykule omówiono szczegóły programowej implementacji wzmacniacza oraz uzyskane wyniki porównane z wynikami uzyskanymi przy zastosowaniu standardowych rozwiązań sprzętowych.
EN
This paper presents theoretical basics and implementation on the analog to digital converters card of the two channel phase sensitive lock-in i type amplifier. National Instruments PCI-4461 fast card has been used as ) a base of this functionality implementation. Details of the software implementation and obtained experimental results compared with the results i obtained with the use of conventional solution have been presented.
4
Content available remote Wykorzystanie przetworników A/C wbudowanych w mikrokontrolery do pomiarów parametrów sygnałów zmiennych
Czaja Z.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2010
|
R. 86, nr 9
5-8
PL
W artykule przedstawiono nową metodę pomiaru parametrów przebiegów sinusoidalnych, takich jak okres, amplituda i napięcie offsetu, opracowaną dla elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Ideą metody jest utworzenie z wewnętrznych pomiarowych urządzeń peryferyjnych mikrokontrolera (liczników, przetworników A/C i komparatorów analogowych) rekonfigurowanych mikrosystemów pomiarowych cechujących się dużą elastycznością konfiguracyjną i niskim kosztem aplikacji. Przeprowadzono również ocenę niepewności pomiaru napięcia zaproponowaną metodą. Jej wyniki określają rozdzielczość i niepewność pomiaru napięć oraz dozwolone pasmo częstotliwości sygnałów mierzonych dla zaproponowanej metody.
EN
A new method of sinusoidal signal parameter measurements (the period, the amplitude and the offset voltage) elaborated for electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented in the paper. The idea of the method bases on using internal measurement peripheral devices of microcontrollers (timers/counters, analog to digital converters (ADCs) and analog comparators) to create reconfigurable measurement microsystems. A 16-bit timer controlled by an analog comparator is used to determine the signal period, and a 10-bit ADC triggered by the 16-bit timer measures three voltage samples which are used to calculations of the signal amplitude and the offset voltage. These microsystems are configuration-flexible and projected for low-cost applications. An estimation of the voltage measurement uncertainty for the method was made. The results describes the resolution and the uncertainty of voltage measurements and also the permissible range of frequencies of measured signals. Thanks to these results, it is possible to estimate the usefulness of the method for a given application.
5
Metody poprawy charakterystyk cyklicznych przetworników A/C
Małkiewicz Ł., Płatonow A.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2010
|
Vol. 51, nr 12
55-58
PL
W artykule przedstawiono nowe metody projektowania i poprawy jakości cyklicznych przetworników A/C (CPAC). U ich podstawy leży przejście do obliczania kodów z zastosowaniem algorytmów adaptacyjnego przetwarzania sygnałów. Pozwala to opracować metody pełnego wykorzystania potencjału analogowej i cyfrowej części przetworników. Cechą szczególną przyjętego podejścia jest wykorzystanie w analizie CPAC adekwatnych modeli matematycznych i wyników przeprowadzonych w oparciu o nie eksperymentów symulacyjnych.
EN
The paper presents new methods of design and improvement of the cyclic A/D converters (CADC) performance. The main idea is transition to computing the codes using adaptive signal processing algorithms. This allows to develop methods of full utilization of the analogue and digital part of the converters. Particular to the approach is the use of adequate mathematical models and efficient model-based simulations in the analysis off CADC.
6
Symulacja komputerowa technik konwersji przetworników analogowo-cyfrowych z wykorzystaniem środowiska LabVIEW
Odon A., Krawiecki Z.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2008
|
Vol. 49, nr 6
50-53
PL
W pracy zaprezentowano aplikacje opracowane w środowisku Lab­VIEW do komputerowej symulacji zasady działania i testowania dwóch rodzajów przetworników analogowo-cyfrowych: przetwornika A/C z przetwarzaniem metodą czasową prostą i przetwornika A/C z dwukrotnym całkowaniem. Panele frontowe zawierają obiekty graficzne, które umożliwiają interaktywną komunikację z użytkownikiem. Zaimplementowane w algorytmie programu efekty animacji umożliwiają ilustrację zasady działania przetwornika A/C. Aplikacja umożliwia ponadto wykonanie wirtualnych eksperymentów-dzięki możliwościom regulacji wartości parametrów sygnałów wejściowych i układów przetworników. Opracowane aplikacje mogą być zastosowane do celów dydaktycznych i badawczych.
EN
Applications designed in LabVIEW environment for computer simulation of operation principle and testing of two types of analog-digital converters: the single-slope A/D converter and dual-slope A/D converter are presented in the paper. Front panels contain graphic objects, which make possible interactive communication with an user. Animation effects allow to illustrate the ADC operation principle. Possibility of adjusting of ADC parameters value and parameters of input signals give possibilities of making virtual experiments. The applications can be used for education and research purposes.
7
Content available Laboratoryjny przetwornik a/c typu "floating-point" na bazie karty DAQ
Lentka G., Boński T.
Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej
|
2008
|
Vol. 57, nr 2
256-267
PL
W artykule przedstawiono zrealizowany przetwornik a/c typu "floating-point" na bazie karty akwizycji danych typu PCI-6221 uzupełnionej o wzmacniacz wejściowy o programowanym wzmocnieniu. Opisywany przetwornik jest podstawą ćwiczenia w laboratorium studenckim. W skład ćwiczenia wchodzi dodatkowo program symulacyjny pozwalający zapoznać się z ideą pracy przetworników typu "floating-point", a następnie przejść do realizacji przetwornika w systemie na bazie karty akwizycji danych.
EN
The paper presents the performed floating-point A/D converter based on PCI-6221 DAQ card with the added input programmable gain amplifier. The converter is a main object in a student lab. The laboratory exercise additionally contains a simulation program, which allows us to familiarize with an idea of floating-point converters and then follow up with the converter based on DAQ card.
8
Prototyp algorytmicznego przetwornika A/C wykorzystujący programowalny układ FPAA
Suszyński R., Wawryn K.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2006
|
Vol. 47, nr 11
49-52
PL
W artykule przedstawiono metodę szybkiego projektowania mieszanych analogowo-cyfrowych układów scalonych. W procesie tym wykorzystuje się układy FPAA do realizacji prototypów badanych układów. Jako przykład zaprezentowano zoptymalizowany układ algorytmicznego przetwornika A/C oraz wyniki jego pomiarów.
EN
A rapid prototyping method for designing mixed signal systems has been presented in the paper. The method is based on implementation of field programmable analog arrays to configure and reconfigure mixed signal systems. A serial algorithmic analog digital converter has been used as an example. The circuit characteristics have been measured and then structure of the converter has been reconfigured to satisfy input specifications.
9
Content available remote Analiza metrologiczna analogowego i cyfrowego miernika impedancji obwodu zwarciowego
Nawrocki Z., Stafiniak A.
Przegląd Elektrotechniczny
|
1999
|
nr 10
241-244
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.