Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 Przegląd Elektrotechniczny

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: przetwarzanie analogowo-cyfrowe dwukanałowe

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Jitter investigation in dual channel simultaneous sampling measurement methods

Jóśko A., Olędzki J.

Przegląd Elektrotechniczny

2012

R. 88, nr 3a

31-33

Dual channel simultaneous sampling measurement methods of power, phase angle or impedance are highly affected by the jitter of the A/D converter. Thus it is necessary to determine the jitter in the validation procedure of a particular measurement method. The article concerns the Authors’ research continuation, this time based on extended measurement setup for detailed jitter analysis, with two independent signal sources and A/D converter circuits.

W dwukanałowych pomiarach próbkujących duży wpływ na wynik pomiaru mocy, kąta fazowego, czy impedancji, może wywierać szum fazowy (jitter) przetwornika A/C. Oszacowanie wartości tego szumu jest niezbędnym krokiem przy walidacji wybranej metody pomiarowej. W artykule przedstawiono wyniki kontynuowanych przez Autorów badań, w których tym razem, w celu przeprowadzenia analizy wykorzystano dwa niezależne źródła sygnałów i dwa układy przetworników A/C.

Measurement setup with dual channel simultaneous sampling A/D converter - uncertainty of jitter estimation

Jóśko A., Olędzki J.

Przegląd Elektrotechniczny

2011

R. 87, nr 5

62-65

Dual channel sampling measurement methods for calculating such parameters as power, phase angle or impedance are highly affected by the jitter of the A/D converter. Thus it is necessary to determine this parameter in the validation procedure of a particular measurement method using chosen set of analog to digital converters or data acquisition card. The article discuses analysis results and practical findings based on research carried out.

W dwukanałowych pomiarach próbkujących duży wpływ na niepewność wyznaczenia wielkości takich jak moc, kąt fazowy, czy impedancja, może wywierać szum fazowy (jitter) układu próbkowania. Wyznaczenie jego wartości jest zatem niezbędnym krokiem przy walidacji danej metody pomiarowej z zastosowaniem wybranego zestawu (karty) przetworników analogowo-cyfrowych. Referat przedstawia wyniki analizy i praktyczne wnioski z przeprowadzonych badań.