Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Prediction of reliability – the pitfalls of using Pearson’s correlation

Hryniewicz O., Karpiński J.

Eksploatacja i Niezawodność

|

2014

|

Vol. 16, no. 3

472--483

EN

Pearson’s coefficient of linear correlation r is the measure of dependence which is the most popular among practitioners. In the paper we have shown, using comprehensive computer simulations, that its application is very limited when we search for informative variables that can be used for the prediction of reliability. We have shown that Kendall’s coefficient of association τ is much better for this purpose.

PL

Współczynnik korelacji liniowej r Pearsona jest najbardziej popularną wśród praktyków miarą zależności statystycznej. W artykule na podstawie wyników wyczerpujących symulacji komputerowych pokazano, że w przypadku poszukiwania zmiennych mogących służyć do prognozowania niezawodności zakres jego stosowalności jest bardzo ograniczony. Wyniki badań symulacyjnych pokazują, że temu celowi lepiej służy współczynnik asocjacji τ Kendalla.

2

Elektronika w pojazdach samochodowych. Cz. 3, Jak uzyskać dużą niezawodność

Kołodziejski J. F., Szczęsny J., Guzdek P.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2011

|

Vol. 52, nr 6

147-153

PL

W pracy omówiono wiele zagadnień dotyczących niezawodności podzespołów i modułów elektronicznych stosowanych w pojazdach samochodowych. Dużą uwagę zwrócono na niezawodność układów scalonych, od których w znacznym stopniu zależy jakość, niezawodność i właściwości funkcjonalne stosowanych modułów elektronicznych. Podkreślono konieczność kompleksowego podejścia do zagadnień niezawodności przyrządów półprzewodnikowych przez uwzględnienie fazy ich produkcji, pomiarów i różnorodnych badań oraz analizy wpływu warunków eksploatacji. Dotyczy to przede wszystkim działań technicznych, ale także i organizacyjnych.

EN

In the work several problems related to reliability of components and electronic modules used in the cars are described. An attention is specially paid to the reliability of integrated circuits, which in significant range determined the quality, reliability and functionality of used electronic modules. The need of complex approach to reliability of semiconductor devices is underlined. It involves regard of fabrication phase, measurements and various investigations as well as analysis of exploitation conditions influence. Both technical and organizational sides are important.

3

Zmodyfikowany model prognozowania niezawodności urządzeń elektronicznych

Zeng S., Sun B., Tong Ch.

Eksploatacja i Niezawodność

|

2009

|

nr 4

4-9

PL

Prognozowanie niezawodności urządzeń elektronicznych oparte na modelu fizyki uszkodzeń (PoF) jest obarczone niepewnościami. Opierając się na połączeniu testu Kołmogorowa-Smirnowa (testu K-S) i metody symulacji Monte Carlo, w niniejszej pracy zaprezentowano zmodyfikowaną metodę prognozowania niezawodności urządzeń elektronicznych, która bierze pod uwagę ograniczoną liczbę danych testowych o uszkodzeniach. Ilościową charakterystykę głównych czynników niepewności modelu stworzono na podstawie wskaźnika zdolności procesu (Cpk). W pierwszej części pracy badano stopień dopasowania pomiędzy teoretycznym rozkładem podobieństwa uszkodzeń urządzeń elektronicznych obliczanym w oparciu o PoF przy użyciu metody symulacji Monte-Carlo a empirycznym rozkładem podobieństwa uszkodzeń urządzeń elektronicznych uzyskanym na podstawie testowych lub terenowych danych o uszkodzeniach przy życiu metody K-S. W części drugiej, dokonano optymalizacji skorygowanego współczynnika modelu. Wreszcie, na podstawie przykładu modelu oceny termicznej wytrzymałości zmęczeniowej połączenia lutowanego oraz wybranych danych testowych o uszkodzeniach dokonano weryfikacji proponowanej metody. Wyniki prognoz uzyskane na podstawie zmodyfikowanego modelu są zgodne z wynikami testowymi.

EN

There exist uncertainties in the prediction of electronic device reliability based on PoF (physics of failure) model. Based on the combination of Kolmogorov-Smirnov test (KS-test) and Monte-Carlo simulation method, this paper presents a modified method for reliability prediction of electronic devices considering limited test failure data. The process capability index (Cpk) is used to quantitatively characterize the main factors of model uncertainties. Firstly the degree of fitting between the theoretical probability distribution of electronic device failures based on PoF by using the Monte-Carlo simulation method and the practical probability distribution of electronic device failures based on test or field failure data is tested by using K-S test method. Secondly the corrected coefficient of the model is optimized. Finally, a solder thermal fatigue life assessment model and some test failure data are used to verify the proposed method in the illustrative example. The prediction results calculated by modifi ed model are consistent with test results.

4

Metoda prognozowania niezawodności struktur statków powietrznych.

Klimaszewski S.

Zagadnienia Eksploatacji Maszyn

|

2003

|

Vol. 38, nr 2

45-57

PL

W pracy rozważono ogólne zasady obliczania niezawodności struktur statków powietrznych. Wskazano na różny charakter osiągania przez elementy stanu granicznego. Zdefiniowano pojęcie niezawodności elementu konstrukcji przy relacji wytrzymałość-obciążenie. Opisano probabilistyczny charakter obciążeń. Dokonano klasyfikacji obciążeń i wskazano na ich probabilistyczną naturę. Przeanalizowano probabilistyczną naturę wytrzymałości. Wskazano na czynniki wpływające na wytrzymałość konstrukcji. Dokonano klasyfikacji możliwych relacji pomiędzy obciążeniem i wytrzymałością. Podano algorytm wyznaczania modelu matematycznego rozkładu pęknięć początkowych. Jako model propagacji pęknięcia przyjęto równanie Parisa. Przedyskutowano rozwiązania równania Parisa i wskazano na jego ograniczony charakter. Podano algorytm obsługi inspekcyjnej elementu konstrukcyjnego z lokalnym wykorzystaniem równania Parisa. Sformułowano wnioski.

EN

The general principles of reliability estimation for aircraft structures was considered in the study. A different character of element's approaching to limiting state was pointed. The notation of structure's element reliability was defined. A probabilistic loads character was described. The classification of loads was developed and their probabilistic nature was indicated. A probabilistic nature of strength was analysed. Factors affecting structures' strength were pointed. The classification of possible relations between stress and strength were developed. An algorithm of mathematical model of initial cracks distribution was developed. Paris equation is proposed as a crack growth rate-based model. Solutions of Paris equation were analyzed and its limiting character was demonstrated. An inspection algorithm of structures' element with local implementation of Paris equation was developed. Conclusions have been formulated.