Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Mechanik

1 2018

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: profilometria stykowa ostrzem odwzorowującym

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Zasady dobrej praktyki metrologicznej, zapewniające wiarygodne wyniki pomiarów struktury geometrycznej powierzchni

Adamczak S., Świderski J., Miller T., Wieczorowski M., Chmielik I.

Mechanik

2018

R. 91, nr 12

1104--1109

Przedstawiono najważniejsze czynniki wpływające na uzyskiwanie wiarygodnych wyników pomiarów struktury geometrycznej powierzchni. Omówiono zasady doboru metody pomiarowej, dostosowanej do charakteru mierzonej powierzchni i cech poszczególnych przyrządów pomiarowych – ich zalet, wad i ograniczeń. Podano zasady dobrej praktyki metrologicznej podczas przygotowywania przyrządu do pomiarów oraz sposób prawidłowego prowadzenia analizy otrzymanych wyników pomiaru w celu obliczenia parametrów struktury geometrycznej powierzchni.

The most important factors influencing obtaining reliable results of surface structure measurements are presented. The article presents the rules for the selection of an appropriate measurement method adapted to the nature of the measured surface and the advantages, disadvantages and limitations of measuring instruments. Principles of good metrological practice during the preparation of the device for carrying out measurements and performing the analysis in order to calculate the parameters of the of the surface structure were discussed.