Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 6

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  profilometr optyczny
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
The article concerns the evaluation of the possibility of using the optical profilometry method in the analysis of the destruction process of acrylic coatings exposed at a climate station in an industrial-urban atmosphere. It was found that the observed changes do not allow to clearly assess the durability of the tested coatings. It seems that the method used may play a supporting role in assessing the quality of the coatings because the surface maps show the number and size of pores in the coating. Therefore, this method can be used, for example, to help determine the optimal parameters of the coating process (e.g. spray pressure).
PL
Artykuł dotyczy oceny możliwości wykorzystania metody profilometrii optycznej w analizie procesu destrukcji renowacyjnych powłok akrylowych przeznaczonych dla przemysłu motoryzacyjnego eksponowanych na stacji klimatycznej w atmosferze przemysłowo-miejskiej. Stwierdzono, że zaobserwowane zmiany nie pozwalają jednoznacznie ocenić trwałości badanych powłok. Wydaje się, że zastosowana metoda może odgrywać rolę pomocniczą w ocenie jakości powłok, ponieważ mapy powierzchni wyraźnie pokazują liczbę i wielkość porów w powłoce. Można więc zastosować tę metodę przykładowo jako wspomagającą ustalenie optymalnych parametrów procesu nakładania powłok (np. ciśnienia natrysku).
PL
W pracy badano wpływ doboru natężenia oświetlenia na wyniki pomiarów parametrów struktury geometrycznej powierzchni, jak również wpływ tegoż natężenia na liczbę punktów niezmierzonych z wy korzystaniem interferometru światła białego Talysurf CCI Lite. Badaniu poddano powierzchnie próbek: anizotropowe, izotropowe oraz mieszane. Natężenie oświetlenia zmieniano w zakresie od 10 do 90%, każdorazowo co 5%. Określono wpływ zmiany natężenia oświetlenia na jakość pomiaru oraz na zmianę wartości parametrów struktury geometrycznej powierzchni. Parametr Smr oraz parametry z grupy cech są najbardziej wrażliwe na zmianę natężenia oświetlenia, nawet jeśli liczba punktów niezmierzonych nie przekracza 10%.
EN
Ten isotropic, anisotropic and mixed surface topographies were analysed. Surface measurements were made using white light interferometer Talysurf CCI Lite. All surfaces were measured with different light intensity. Light intensity was changed in the range of 10%-90% every time at 5%. Parameters from ISO 25178 group were calculated. Parameters were calculated using the software Talymap Gold, version 6.0. Influence of light intensity on the change of surface topography parameters was analysed. The functional parameter Smr and feature parameters are the most sensitive to light intensity even if number of non-measured points was smaller than 10%.
EN
Several isotropic and anisotropic surface topographies were analysed. Surface measurements were made using white light interferometer Talysurf CCI Lite, version 2.8.2.95. All surfaces were measured with different light intensity. Light intensity was changed in the range 10%–90% every time at 5%. After measurement each surface was levelled and non-measured points were filled up. Parameters from ISO 25178 group and parameters from the Sk family were calculated. Parameters were calculated using the software Talymap Gold, version 6.0. Influence of light intensity on the change of surface topography parameters was analysed.
PL
W pracy badano wpływ doboru natężenia oświetlenia na wyniki pomiarów parametrów chropowatości, jak również wpływ tegoż natężenia na ilość punktów niezmierzonych z wykorzystaniem interferometru światła białego Talysurf CCI light. Badaniu poddano zarówno próbki anizotropowe (szlifowane), jak i izotropowe (kulowane). Natężenie oświetlenia zmieniano w zakresie od 10 do 90% każdorazowo co 5%. Określono wpływ zmiany natężenia oświetlenia na jakość pomiaru oraz na zmianę wartości parametrów chropowatości.
PL
W pracy przedstawiono wyniki badań odporności na korozję elektrochemiczną drutów wykonanych ze stali nierdzewnej X10CrNi 18-8 przeznaczonych dla protetyki stomatologicznej i chirurgii twarzowo-szczękowej. Testy potencjodynamiczne realizowano w roztworze sztucznej śliny. Dokonano oceny wpływu odkształcenia w procesie ciągnienia oraz modyfikacji powierzchni na właściwości korozyjne drutów. Za pomocą profilometru optycznego przeprowadzono pomiar cech geometrycznych drutów po badaniach korozyjnych.
EN
The study presents the results of electrochemical corrosion resistance tests of wires made of stainless steel X10CrNi 18-8 for prosthodontic and facial and dental surgery. Potentiodynamic tests were performed in artificial saliva solution. The influence of strain in drawing process and surface modification on wire corrosion characteristics were evaluated. Optical profilometer was used for measurement of geometrical features of wires after corrosion tests.
EN
In this work surface of the sintered Ti-6Zr-4Nb nanocrystalline alloy was electrochemically biofunctionalized. The porous surface was produced by anodic oxidation and next calcium-phosphate (Ca-P) layer deposition. The deposited Ca-P layer anchored in the pores. The biofunctionalized surface was studied by SEM and optical profiler. In vitro tests culture of Normal Human Osteoblast (NHOst) cells showed very good cells proliferation, colonization and multilayering. Using optical profiler, roughness and hybrid 3D surface topography parameters were estimated. Relations between surface morphology, roughness and biocompatibility results were done. We found that 3D topography measurements using optical profiler play a key role in the biomaterials surface analysis.
PL
W pracy badano elektrochemicznie zmodyfikowaną powierzchnię nanokrystalicznego stopu Ti-6Zr-4Nb pod kątem zastosowań biomedycznych. Proces modyfikacji powierzchni składa się z dwóch etapów: pierwszym było anodowe utlenianie w celu rozwinięcia powierzchni, a drugim osadzanie fosforanów wapnia (Ca-P). Ca-P tworzą silne wiązanie z porowatym podłożem. Badania prowadzono z użyciem mikroskopu SEM i profilometru optycznego. Przeprowadzono badania biozgodności in vitro z wykorzystaniem hodowli ludzkich osteoblastów. Za pomocą profilometru zmierzono chropowatość i inne parametry topografii powierzchni. Porównano wyniki morfologii powierzchni, chropowatości i biozgodności. Potwierdzono przydatność profilometru optycznego jako ważnego narzędzia do badań powierzchni biomateriałów.
PL
Warstwa tlenku indowo-cynowego (ITO) naniesiona na podłoże giętkie lub sztywne znajduje obecnie zastosowanie do wytwarzania organicznych diod elektroluminescencyjnych (OLED) lub organicznych ogniw fotowoltaicznych (OPV). Zazwyczaj przed nałożeniem warstw funkcjonalnych wykonywanej struktury, ITO jest poddawane czyszczeniu. W artykule opisano wyniki badań chropowatości warstwy ITO metodą mikroskopii sił atomowych i profilometrii optycznej. Badane próbki przed pomiarami poddano czyszczeniu alkalicznemu lub czyszczeniu w acetonie i alkoholu etylowym lub alkoholu izopropylowym. Niezależnie od zastosowanej techniki pomiarowej wszystkie metody przygotowania powierzchni ITO powodowały wzrost jej chropowatości w stosunku do próbki w stanie dostawy. Stwierdzono również, że wartości chropowatości zmierzonej profilometrem optycznym były wyższe niż uzyskane mikroskopem sił atomowych.
EN
Indium tin oxide (ITO) layers evaporated on elastic or rigid substrates are currently used for manufacturing organic light-emitting diodes (OLED) or organie photovoltaic cells (OPV). Before functional layers of a fabricated device are deposited on ITO substrate its surface is usually cleaned. In this paper, the results of ITO layer roughness measurements by atomic force microscopy and optical profiler are reported. The specimens were treated with alkaline cleaning or ultrasonic degreasing in acetone and ethyl or isopropyl alcohol. Irrespective of measurement technigue all treatment methods lead to increase of ITO surface roughness when compared to the untreated sample. It was affirmed that the values of ITO roughness measured with optical profilometry were higher than measured with atomic force microscopy.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.