Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Cincio R.

1 2010

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: profile measurements

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Selected problems of complex assessment of technical surface topography

Cincio R.

Pomiary Automatyka Kontrola

2010

R. 56, nr 1

42-43

In the paper was introduced the system which consists collections of modules for receiving, normalization and data processing from profilographometer (coordinates of profiles - 2D) and modules to calculate of numerous collection of surface parameters (3D) and surface visualisation module. Additionally in the system developed a module for canvassing images 2D of technical surfaces and transformation data to images 3D along with estimation surface. Calculating of stereometric surfaces parameters with data representing flat image of surface (2D). It allow to additional enlargement range of the system on estimation tasks of surface topography such as surfaces of abrasive tools without use of contact- methods and without their disassembly from machine tools.

W artykule przedstawiono poglądowy opis opracowywanego systemu składającego się z baz wiedzy zawierających relacje między parametrami 2D i 3D, baz danych, baz reguł wnioskowania, modułów analiz i wizualizacji, dokumentacji zespołów pomocniczych (akwizycji obrazów 2D) i modułów komunikacji z użytkownikiem. System umożliwia przetwarzanie danych z profilografometru, który wykorzystując wyniki z jednego lub dwóch pomiarów (zarysów w jednym przekroju o długości określanej przez system, dwóch pomiarów w przekrojach do siebie prostopadłych lub też zarys pomiaru po torze spiralnym według nowych koncepcji realizacji pomiarów profilografometrycznych opracowanych w polskich ośrodkach badawczych) oraz wykorzystując wiedzę zgromadzoną w formie reguł wnioskowania i w module sztucznych sieci neuronowych, pozwala na wyznaczenie licznego, komplementarnego zbioru parametrów stereometrycznych powierzchni. Możliwe jest ponadto wyznaczenie obrazu powierzchni o cechach statystycznych zgodnych z powierzchnią, na której przeprowadzono pomiar.